TC1014/TC1015/TC1185
典型性能曲线(续)
注意:
除非另有说明,所有的份数是在温度= + 25 ℃下测定。
测量上升3.3V LDO的时间与旁路电容
条件:C
IN
= 1μF ,C
OUT
= 1μF ,C
BYP
= 470pF的,我
负载
= 100毫安
V
IN
= 4.3V ,温度= 25 ° C,上升时间= 448μS
测量上升3.3V LDO的时间无旁路电容
条件:C
IN
= 1μF ,C
OUT
= 1μF ,C
BYP
= 0pF ,我
负载
= 100毫安
V
IN
= 4.3V ,温度= 25 ° C,上升时间= 184μS
V
SHDN
V
SHDN
V
OUT
V
OUT
图2-17 :
测量上升3.3V的时间
与旁路电容。
秋季测量3.3V LDO的时间与旁路电容
条件:C
IN
= 1μF ,C
OUT
= 1μF ,C
BYP
= 470pF的,我
负载
= 50毫安
V
IN
= 4.3V ,温度= 25 ℃,下降时间= 100μS
图2-19:
测量上升3.3V的时间
无需旁路电容。
秋季测量3.3V LDO的时间无旁路电容
条件:C
IN
= 1μF ,C
OUT
= 1μF ,C
BYP
= 0pF ,我
负载
= 100毫安
V
IN
= 4.3V ,温度= 25 ℃,下降时间= 52μS
V
SHDN
V
SHDN
V
OUT
V
OUT
图2-18 :
测量3.3V下降时间
与旁路电容。
图2-20 :
测量3.3V下降时间
无需旁路电容。
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2007 Microchip的技术公司
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