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EDS2532EGBH-7BTT-F 参数 Datasheet PDF下载

EDS2532EGBH-7BTT-F图片预览
型号: EDS2532EGBH-7BTT-F
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内容描述: 256M位的SDRAM WTR (宽温度范围) [256M bits SDRAM WTR (Wide Temperature Range)]
分类和应用: 存储内存集成电路动态存储器
文件页数/大小: 50 页 / 719 K
品牌: ELPIDA [ ELPIDA MEMORY ]
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EDS2532EGBH-TT  
DC Characteristics 2 (TA = –20°C to +85°C, VDD, VDDQ = 1.8V ± 0.1V, VSS, VSSQ = 0V)  
Parameter  
Symbol  
ILI  
min.  
max.  
2.0  
1.5  
Unit  
µA  
µA  
V
Test condition  
Notes  
Input leakage current  
Output leakage current  
Output high voltage  
Output low voltage  
–2.0  
0 VIN VDD  
ILO  
–1.5  
0 VOUT VDD, DQ = disable  
IOH = –0.1 mA  
VOH  
VOL  
VDD –0.2  
0.2  
V
IOL = 0.1 mA  
Pin Capacitance (TA = 25°C, VDD, VDDQ = 1.8V ± 0.1V)  
Notes  
Parameter  
Symbol  
CI1  
Pins  
min.  
1.5  
typ.  
max.  
4.0  
Unit  
pF  
Input capacitance  
CLK  
1, 2, 4  
Address, CKE, /CS,  
/RAS, /CAS, /WE, 1.5  
DQM  
CI2  
4.0  
pF  
1, 2, 4  
Data input/output  
capacitance  
CI/O  
DQ  
2.0  
5.0  
pF  
1, 2, 3, 4  
Notes: 1. Capacitance measured with Boonton Meter or effective capacitance measuring method.  
2. Measurement condition: f = 1MHz, 0.5 × VDDQ, 200mV swing.  
3. DQM = VIH to disable DOUT.  
4. This parameter is sampled and not 100% tested.  
Preliminary Data Sheet E1200E40 (Ver. 4.0)  
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