欢迎访问ic37.com |
会员登录 免费注册
发布采购

XCF04SVOG20C 参数 Datasheet PDF下载

XCF04SVOG20C图片预览
型号: XCF04SVOG20C
PDF下载: 下载PDF文件 查看货源
内容描述: Platform Flash在系统可编程配置PROM [Platform Flash In-System Programmable Configuration PROMs]
分类和应用: 存储内存集成电路光电二极管PC可编程只读存储器电动程控只读存储器电可擦编程只读存储器时钟
文件页数/大小: 35 页 / 1050 K
品牌: XILINX [ XILINX, INC ]
 浏览型号XCF04SVOG20C的Datasheet PDF文件第1页浏览型号XCF04SVOG20C的Datasheet PDF文件第2页浏览型号XCF04SVOG20C的Datasheet PDF文件第4页浏览型号XCF04SVOG20C的Datasheet PDF文件第5页浏览型号XCF04SVOG20C的Datasheet PDF文件第6页浏览型号XCF04SVOG20C的Datasheet PDF文件第7页浏览型号XCF04SVOG20C的Datasheet PDF文件第8页浏览型号XCF04SVOG20C的Datasheet PDF文件第9页  
R
Platform Flash在系统可编程配置PROM
指令序列。 iMPACT软件能同时输出
串行矢量格式( SVF )文件的任何工具的使用
接受SVF格式,其中包括自动测试设备。
在系统内编程,首席执行官输出驱动
高。其它所有输出处于高阻抗状态,保持或
期间,在系统编程的钳位电平举行。所有
期间,在系统非JTAG输入引脚被忽略
编程,包括CLK , CE , CF , OE / RESET ,忙,
EN_EXT_SEL和REV_SEL [1:0 ] 。在系统编程
整个推荐的工作完全支持
电压和温度范围。
嵌入式,在系统编程的参考设计,
例如
赛灵思在系统编程使用
嵌入式微控制器,
可从赛灵思网站
页面
SEE
平台闪存PROM用户指南,
使用设计了先进的最新方法
Revisioning在平台的Flash XCFxxP PROM的功能。
SEE
平台闪存PROM用户指南,
有关详细
对PROM对FPGA配置的硬件指南
连接,软件的使用,赛灵思的参考名单
FPGA,以及用于各个兼容平台的Flash
PROM中。
列出了平台的Flash PROM和其
能力。
表2:
平台上的Flash PROM容量
平台
闪存PROM
XCF01S
XCF02S
XCF04S
CON组fi guration
1,048,576
2,097,152
4,194,304
平台
闪存PROM
XCF08P
XCF16P
XCF32P
CON组fi guration
8,388,608
16,777,216
33,554,432
程序设计
该平台闪存PROM是可重新编程的NOR闪存
设备(参见
该编程/擦除规范)。
重新编程需要擦除之后是程序
操作。后推荐奇偶校验工作
程序操作,以验证数据的正确传输
从编程源到平台闪存PROM 。
几种编程解决方案可供选择。
OE /复位
1/2/4兆XCFxxS平台的Flash PROM的在系统
规划算法导致发行内部的
设备复位,导致OE / RESET脉冲低电平。
外部编程
在系统编程
在系统可编程的PROM可编程
单独或两个以上的可以菊花链连接在一起
并通过标准的4针JTAG在系统编程
协议中所示
X -参考目标 - 图3
在传统的制造环境中,第三方
器件编程器可以编程平台闪存PROM中
与PROM的是之前的初始内存映像
组装到电路板。联系首选的第三方
编程器供应商平台闪存PROM支持
信息。第三方编程示例列表
同平台的Flash PROM支持供应商可在
赛灵思网站页面
SEE
平台闪存PROM用户指南,
对于需要程序员的PROM数据文件格式。
预编程的PROM可组装到板
使用典型的焊接工艺指南
器件封装用户指南。
预编程的PROM的
内存映像可电路板组装后使用更新
一个在系统编程解决方案。
V
CC
GND
可靠性和耐用性
(b)
DS123_33_031908
(a)
图3:
JTAG在系统编程操作
(一)焊接设备到PCB
(二)计划使用下载电缆
在系统编程提供了快速,高效的设计
迭代和消除不必要的包装处理或
套接装置。编程数据序列是
交付使用或者赛灵思的iMPACT软件的设备
和赛灵思下载电缆,第三方JTAG
开发系统,一个JTAG兼容的电路板测试仪,或
简单的微处理器接口,模拟了JTAG
赛灵思在系统可编程产品提供
20000保证耐力水平系统
节目擦除周期和20的最小数据保持
年。每个器件满足所有的功能,性能和
在此忍耐极限数据保存规范。
SEE
赛灵思器件可靠性报告
器件
质量,可靠性和处理节点的信息。
DS123 ( v2.17 ) 2009年10月26日
产品speci fi cation
3