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BQ4014Y 参数 Datasheet PDF下载

BQ4014Y图片预览
型号: BQ4014Y
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内容描述: 256Kx8非易失SRAM\n [256Kx8 Nonvolatile SRAM ]
分类和应用: 静态存储器
文件页数/大小: 11 页 / 765 K
品牌: TI [ TEXAS INSTRUMENTS ]
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bq4014/bq4014Y  
AC Test Conditions  
Parameter  
Test Conditions  
0V to 3.0V  
Input pulse levels  
Input rise and fall times  
5 ns  
Input and output timing reference levels  
Output load (including scope and jig)  
1.5 V (unless otherwise specified)  
See Figures 1 and 2  
Figure 1. Output Load A  
Figure 2. Output Load B  
Read Cycle (T = 0 to 70°C, V  
V  
V  
)
CCmax  
A
CCmin  
CC  
-120  
Min. Max.  
-85  
Min. Max.  
Symbol  
tRC  
Parameter  
Unit  
ns  
ns  
ns  
ns  
ns  
ns  
ns  
ns  
ns  
Conditions  
Read cycle time  
85  
-
-
85  
85  
45  
-
120  
-
-
120  
120  
60  
-
tAA  
Address access time  
Chip enable access time  
Output load A  
tACE  
tOE  
-
-
Output load A  
Output load A  
Output load B  
Output load B  
Output load B  
Output load B  
Output load A  
Output enable to output valid  
Chip enable to output in low Z  
Output enable to output in low Z  
Chip disable to output in high Z  
Output disable to output in high Z  
Output hold from address change  
-
-
tCLZ  
tOLZ  
tCHZ  
tOHZ  
tOH  
5
5
0
-
0
-
0
35  
25  
-
0
45  
35  
-
0
0
10  
10  
Sept. 1992  
4
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