TABLE I. Electrical performance characteristics.
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Test
│Symbol
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Conditions
-55°C ≤ TC ≤+125°C
VSS = 0 V,
│Group A │Device│ Limits
│subgroups │types
│
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│
Unit
│
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│
4.5 V ≤ VCC ≤ 5.5 V
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│
│ Min
│ Max
│unless otherwise specified 1/
│
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│
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│
│
Supply current
(active)
│ICC1
│ CE = OE = VIL, WE = VIH
│ all I/O's = 0 mA,
│Inputs = VCC = 5.5 V,
│f = 1/tAVAV (minimum)
│
│
│ 1,2,3
│ All
│
│ 80
│ mA
│
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│
Supply current
(TTL standby)
│ICC2
│ CE = VIH, OE = VIL
│ all I/O's = 0 mA
│Inputs = VCC -0.3 V
│
│
│ 1,2,3
│ All
│
│ 3
│ mA
│
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│
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│
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│
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│
Supply current
│ICC3
│ CE = VCC -0.3 V
│ 1,2,3
│ All
│
│ 350 │ µA
(CMOS standby)
│
│ all I/O's = 0 mA,
│
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│
│Inputs = VIL to VCC -0.3 V
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│
│
Input leakage (high)
Input leakage (low)
│IIH
│
│VIN = 5.5 V
│ 1,2,3
│ All
│ -10
│ 10
│ µA
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│ All
│
│
│
│ -10
│
│
│
│ 10
│
│
│
│IIL
│
│
│VIN = 0.1 V
│
│
│ 1,2,3
│
│
│ µA
│
│
Output leakage (high) │IOHZ 2/ │VOUT = 5.5 V, CE = VIH
│ 1,2,3
│
│
│ All
│
│
│ -10
│
│
│ 10
│
│
│ µA
│
│
│
│
│
│
Output leakage (low)
Input voltage low
Input voltage high
Output voltage low
│IOLZ 2/ │VOUT = 0.1 V, CE = VIH
│ 1,2,3
│
│
│ 1,2,3
│
│
│ 1,2,3
│
│
│ All
│
│
│ All
│
│
│ All
│
│
│ -10
│
│
│-0.1
│
│
│ 2.0
│
│
│ 10
│
│ µA
│
│
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│
│
│
│
│VIL
│
│ 0.8
│
│
│VCC
│+ 0.3V │
│
│ V
│
│
│
│
│
│
│VIH
│
│ V
│
│
│
│
│
│VOL
│IOL = 2.1 mA, VIH = 2.0 V
│ 1,2,3
│ All
│
│ 0.45 │ V
│
│VCC = 4.5 V, VIL = 0.8 V
│
│
│
│
│
│
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│
│
│
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│
│
│
│
│
│
│
│VOH
│
│
│
│
│
│
│ All
│
│
│
│
│ 2.4
│
│
│
│
│ V
│
│
│
Output voltage high
│IOH = -400 µA, VIH = 2.0 V
│VCC = 4.5 V, VIL = 0.8 V
│
│
│ 1,2,3
│
│
│
OE high leakage
(chip erase)
│IOE
│
│VH = 13 V
│
│ 1,2,3
│
│ All
│
│ -10
│
│ 100 │ µA
│
│
See footnotes at end of table.
SIZE
STANDARD
5962-88525
A
MICROCIRCUIT DRAWING
DEFENSE SUPPLY CENTER COLUMBUS
COLUMBUS, OHIO 43218-3990
REVISION LEVEL
SHEET
D
5
DSCC FORM 2234
APR 97
XICOR [ XICOR INC. ]
