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BQ4011MA-70N 参数 Datasheet PDF下载

BQ4011MA-70N图片预览
型号: BQ4011MA-70N
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内容描述: 32Kx8非易失SRAM [32Kx8 Nonvolatile SRAM]
分类和应用: 静态存储器
文件页数/大小: 11 页 / 728 K
品牌: TI [ TEXAS INSTRUMENTS ]
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bq4011/bq4011Y  
AC Test Conditions  
Parameter  
Test Conditions  
0V to 3.0V  
Input pulse levels  
Input rise and fall times  
5 ns  
Input and output timing reference levels  
Output load (including scope and jig)  
1.5 V (unless otherwise specified)  
See Figures 1 and 2  
Figure 1. Output Load A  
Figure 2. Output Load B  
Read Cycle (T = T  
, V  
V  
V  
)
A
OPR CCmin  
CC  
CCmax  
-70/-70N  
-100  
-150/-150N  
-200  
Min. Max. Min. Max. Min. Max.  
Min. Max.  
Symbol  
Parameter  
Unit  
Conditions  
tRC  
Read cycle time  
70  
-
-
100  
-
150  
-
200  
-
ns  
tAA  
Address access time  
70  
70  
-
-
100  
100  
-
-
150  
150  
-
-
200  
200  
ns  
ns  
Output load A  
Output load A  
tACE  
Chip enable access time  
-
Output enable to  
output valid  
tOE  
-
5
35  
-
-
5
50  
-
-
10  
5
70  
-
-
10  
5
90  
-
ns  
ns  
ns  
ns  
ns  
ns  
Output load A  
Output load B  
Output load B  
Output load B  
Output load B  
Output load A  
Chip enable to output  
in low Z  
tCLZ  
tOLZ  
tCHZ  
tOHZ  
tOH  
Output enable to  
output in low Z  
5
-
5
-
-
-
Chip disable to output  
in high Z  
0
25  
25  
-
0
40  
35  
-
0
60  
50  
-
0
70  
70  
-
Output disable to  
output in high Z  
0
0
0
0
Output hold from  
address change  
10  
10  
10  
10  
Aug. 1993 C  
4
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