*CIE RANK
<IF=20mA, Ta=25℃>
E2
E3
E4
x
y
x
y
x
y
0.2820
0.2850
0.2893
0.2865
F2
0.2720
0.2670
0.2743
0.2795
0.2850
0.2880
0.2920
0.2893
0.2670
0.2620
0.2690
0.2743
0.2880
0.2910
0.2948
0.2920
0.2620
0.2570
0.2638
0.2690
F3
F4
G4
H4
x
y
x
y
x
y
0.2865
0.2893
0.2935
0.2910
G2
0.2795
0.2743
0.2815
0.2870
0.2893
0.2920
0.2960
0.2935
0.2743
0.2690
0.2760
0.2815
0.2920
0.2948
0.2985
0.2960
0.2690
0.2638
0.2705
0.2760
G3
x
y
x
y
x
y
0.2910
0.2935
0.2975
0.2950
H2
0.2870
0.2815
0.2885
0.2940
0.2935
0.2960
0.3000
0.2975
0.2815
0.2760
0.2830
0.2885
0.2960
0.2985
0.3025
0.3000
0.2760
0.2705
0.2775
0.2830
H3
x
y
x
y
x
y
0.2950
0.2975
0.3015
0.2990
0.2940
0.2885
0.2955
0.3010
0.2975
0.3000
0.3040
0.3015
0.2885
0.2830
0.2900
0.2955
0.3000
0.3025
0.3065
0.3040
0.2830
0.2775
0.2845
0.2900
*Measurement Uncertainty of the Color Coordinates : ± 0.007
Rev. 00
January, 2009
www.acriche.com
Document No. : SSC-QP-7-07-24 (Rev.00)
SEOUL [ Seoul Semiconductor ]
