HEF4069UBP 参数 Datasheet PDF下载

Philips Semiconductors

Product speciﬁcation

Hex inverter

HEF4069UB

gates

Fig.12 Test set-up for measuring forward transconductance g

= di

/dv

at v

is constant (see also graph

Fig.13).

A : average,

B : average + 2 s,

C : average

−

2 s, where:

‘s’ is the observed standard

deviation.

Fig.13 Typical forward transconductance g

as a function of the supply voltage at T

amb

= 25

°C.

January 1995

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