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    74HC165BQ-Q100 参数 Datasheet PDF下载

    74HC165BQ-Q100图片预览
    型号： 74HC165BQ-Q100
    PDF下载： 下载PDF文件 查看货源
    内容描述： [HC/UH SERIES, 8-BIT RIGHT PARALLEL IN SERIAL OUT SHIFT REGISTER, COMPLEMENTARY OUTPUT, PQCC16, 2.50 X 3.50 MM, 0.85 MM HEIGHT, PLASTIC, MO-241, SOT763-1, DHVQFN-16]
    分类和应用： 输出元件
    文件页数/大小： 21 页 / 304 K
    品牌： PHILIPS [ NXP SEMICONDUCTORS ]
     浏览型号74HC165BQ-Q100的Datasheet PDF文件第10页浏览型号74HC165BQ-Q100的Datasheet PDF文件第11页浏览型号74HC165BQ-Q100的Datasheet PDF文件第12页浏览型号74HC165BQ-Q100的Datasheet PDF文件第13页浏览型号74HC165BQ-Q100的Datasheet PDF文件第15页浏览型号74HC165BQ-Q100的Datasheet PDF文件第16页浏览型号74HC165BQ-Q100的Datasheet PDF文件第17页浏览型号74HC165BQ-Q100的Datasheet PDF文件第18页  
    NXP Semiconductors
    74HC165-Q100; 74HCT165-Q100
    8-bit parallel-in/serial out shift register
    V
    I
    negative
    pulse
    0V
    t
    W
    90 %
    V
    M
    10 %
    t
    f
    t
    r
    t
    r
    t
    f
    90 %
    V
    M
    10 %
    t
    W
    V
    M
    V
    M
    V
    I
    positive
    pulse
    0V
    V
    CC
    V
    CC
    G
    VI
    VO
    RL
    S1
    DUT
    RT
    CL
    open
    001aad983
    Test data is given in
    Table 9.
    Definitions for test circuit:
    R
    T
    = Termination resistance should be equal to output impedance Z
    o
    of the pulse generator.
    C
    L
    = Load capacitance including jig and probe capacitance.
    R
    L
    = Load resistance.
    S1 = Test selection switch
    Fig 12. Test circuit for measuring switching times
    Table 9.
    Type
    74HC165-Q100
    74HCT165-Q100
    Test data
    Input
    V
    I
    V
    CC
    3V
    t
    r
    , t
    f
    6 ns
    6 ns
    Load
    C
    L
    15 pF, 50 pF
    15 pF, 50 pF
    R
    L
    1 k
    1 k
    S1 position
    t
    PHL
    , t
    PLH
    open
    open
    74HC_HCT165_Q100
    All information provided in this document is subject to legal disclaimers.
    © NXP B.V. 2012. All rights reserved.
    Product data sheet
    Rev. 1 — 17 July 2012
    14 of 21

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