PIC18F2331/2431/4331/4431
22.0
低电压检测（ LVD ）
PIC18F2331 / 2431 / 4431分之4331器件具有一个低
电压检测模块（ LVD ） ，一个可编程电路
这使得用户能够指定一个器件电压跳闸
点。如果设备出现下面的游览
触发点，中断标志位被置位。如果中断是
启用后，程序执行将跳转到该间
中断向量地址，然后软件可以响应
到该中断。
低电压检测控制寄存器（寄存器
完全控制了LVD模块的操作。
这使得该电路被“关闭”，由用户
在软件控制下，最大限度地减少了电流
消费设备。
为LVD模块的方框图中示出
该模块通过设置LVDEN位使能，但
该电路需要一些时间来每次稳定
它被启用。 IRVST位只读位使用
以指示当电路是稳定的。 CAN模块
只产生一个中断后的电路是稳定的，并
在IRVST位。该模块用于监视滴
V
DD
低于预定的设定点。
寄存器22-1 ：
U-0
—
第7位
图例：
R =可读位
上电复位时-n =价值
位7-6
第5位
LVDCON ：低压检测控制寄存器
U-0
—
R-0
IRVST
R/W-0
LVDEN
R/W-0
LVDL3
(1)
R/W-1
LVDL2
(1)
R/W-0
LVDL1
(1)
R/W-1
LVDL0
(1)
位0
W =可写位
' 1 ' =置
U =未实现位，读为'0'
' 0 ' =清零
X =未知
未实现：
读为' 0 '
IRVST ：
内部参考电压稳定标志位
1
=表示低电压检测逻辑将产生中断标志在指定的电压
范围
0
=表示低电压检测逻辑在指定不会产生中断标志
电压范围和LVD中断不应该启用
LVDEN ：
低电压检测电源使能位
1
=使能LVD ，上电LVD电路
0
=禁止LVD ， LVD下来电路权力
LVDL<3 ： 0> ：
低电压检测限制位
(1)
1111
=外部模拟输入时（输入来自LVDIN引脚）
1110
=最大值设置
.
.
.
0010
=最小设定
0001
•保留
0000
•保留
LVDL<3 ： 0>位模式，这导致下面的设备的有效工作电压跳闸点，不
测试。
4位
3-0位
注1 ：
2010 Microchip的技术公司
DS39616D第257页
MICROCHIP [ MICROCHIP TECHNOLOGY ]
