CY7C1325B
开关特性
在整个工作范围
[10]
-117
参数
t
CYC
t
CH
t
CL
t
AS
t
AH
t
CDV
t
DOH
t
ADS
t
ADH
t
WES
t
WEH
t
ADVS
t
ADVH
t
DS
t
DH
t
CES
t
CEH
t
CHZ
t
CLZ
t
EOHZ
t
EOLZ
t
EOV
时钟周期时间
时钟高
时钟低
地址建立CLK兴起之前
地址保持CLK崛起后
数据输出有效CLK上升后
数据输出保持CLK上升后
ADSP ADSC建立CLK兴起之前
,
ADSP ADSC保持CLK崛起后
,
BWS
[1:0]
， GW ， BWE建立CLK兴起之前
BWS
[1:0]
， GW ， BWE举行CLK崛起后
ADV建立CLK兴起之前
ADV保持CLK崛起后
数据输入建立CLK兴起之前
数据输入保持CLK上升后
芯片使能建立
芯片使能保持CLK崛起后
时钟到高阻
[11, 12]
时钟为低-Z
[11, 12]
OE高到输出高阻
[11, 13]
OE低到输出低-Z
OE低到输出有效
[11, 13]
-100
马克斯。
分钟。
10
4.0
4.0
2.0
0.5
7.5
8.0
2.0
2.0
0.5
2.0
0.5
2.0
0.5
2.0
0.5
2.0
0.5
3.5
3.5
0
3.5
3.5
0
3.5
3.5
马克斯。
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
描述
分钟。
8.5
3.0
3.0
2.0
0.5
2.0
2.0
0.5
2.0
0.5
2.0
0.5
2.0
0.5
2.0
0.5
0
0
注意事项：
10.除非另有说明，测试条件假定为2.5毫微秒或更少的信号的过渡时间，定时1.25V的参考等级，为0的输入脉冲电平为2.5V ，并
指定I的输出负载
OL
/I
OH
和负载电容。示出在（a）和交流测试负载的（ b）所示。
11. t
CHZ
, t
CLZ
, t
EOHZ
和叔
EOLZ
被指定采用5 pF的负载电容在交流测试负载（b）部分。过渡测
±
200毫伏的稳定状态
电压。
12.在任何给定的电压和温度，叔
CHZ
（最大）小于吨
CLZ
（分钟） 。
13.这个参数进行采样，而不是100 ％测试。
9
CYPRESS [ CYPRESS SEMICONDUCTOR ]
