欢迎访问ic37.com |
会员登录 免费注册
发布采购

ADSP-BF532SBBC400 参数 Datasheet PDF下载

ADSP-BF532SBBC400图片预览
型号: ADSP-BF532SBBC400
PDF下载: 下载PDF文件 查看货源
内容描述: Blackfin嵌入式处理器 [Blackfin Embedded Processor]
分类和应用: 外围集成电路时钟
文件页数/大小: 64 页 / 2420 K
品牌: AD [ ANALOG DEVICES ]
 浏览型号ADSP-BF532SBBC400的Datasheet PDF文件第42页浏览型号ADSP-BF532SBBC400的Datasheet PDF文件第43页浏览型号ADSP-BF532SBBC400的Datasheet PDF文件第44页浏览型号ADSP-BF532SBBC400的Datasheet PDF文件第45页浏览型号ADSP-BF532SBBC400的Datasheet PDF文件第47页浏览型号ADSP-BF532SBBC400的Datasheet PDF文件第48页浏览型号ADSP-BF532SBBC400的Datasheet PDF文件第49页浏览型号ADSP-BF532SBBC400的Datasheet PDF文件第50页  
ADSP-BF531/ADSP-BF532/ADSP-BF533
测试条件
出现在本数据表中的所有时序参数都是测
本节所述的条件下sured 。
显示了交流测量的测量点(除输出
把启用/禁用) 。测量点V
MEAS
为0.95 V为
V
DDEXT
(标称值) = 1.8 V或1.5 V的V
DDEXT
(标称值) = 2.5 V /
3.3 V.
时间
t
衰变
计算与试验载荷
C
L
I
L
,并用
V
等于0.1 V的V
DDEXT
(标称值) = 1.8 V或0.5 V的
V
DDEXT
(标称值) = 2.5 V / 3.3 V
时间
t
DIS_MEASURED
是从当基准时间间隔
信号开关,以当所述输出电压衰减
V
测量输出高电平或低电平输出电压。
参考
信号
输入
OR
产量
V
MEAS
V
MEAS
t
DIS_MEASURED
t
DIS
t
ENA
V
OH
(测定)
V
OL
(实测)+。
V
V
V
OH
(测定)
V
OL
(测定)
t
ENA_MEASURED
图44.参考电压等级交流
测量(除输出使能/禁用)
V
OH
(测定)
V
(高)
V
(低)
V
OL
(测定)
输出使能时间测量
输出引脚被认为是使能时,他们已作出
从高阻抗状态的点的过渡时
开始驾驶。
输出使能时间t
ENA
是从点时的时间间隔
一个参考信号达到高或低电压电平到所述点
当输出开始右侧驾驶如图所示
时间t
ENA_MEASURED
为间隔,从当参考
信号开关,以当所述输出电压达到V
(高)
或V
(低) 。
对于V
DDEXT
(标称值) = 1.8 V -V
(高)为1.3 V和V
(低)为0.7 V.
对于V
DDEXT
(标称值) = 2.5 V / 3.3 V -V
(高)为2.0 V和
V
(低)为1.0 V.
时间T
指的是从输出开始驱动的间隔
当输出达到V
(高)或V
(低)之旅
电压。
时间
t
ENA
所示计算公式中:
t
ENA
=
t
ENA_MEASURED
t
如果多个引脚(例如数据总线)被启用时,测量
精神疾病的价值在于,所述第一销的开始驱动。
t
衰变
t
输出停止驱动
输出开始驱动
高阻抗状态
图45.输出使能/禁用
例如系统保持时间计算
为了确定在一个特定的系统中的数据输出保持时间为
首先计算
t
衰变
利用上面给出的等式。选择
V
为处理器的输出电压之间的差值
该设备需要的保持时间的输入阈值。
C
L
is
总的总线电容(每条数据线) ,我
L
是总的泄漏
年龄或三态电流(每条数据线) 。保持时间是
t
衰变
加为在指定的各个输出禁止时间
(例如吨
DSDAT
对于SDRAM
写周期,如图
输出禁止时间测量
输出引脚被认为是当他们停止driv-被禁用
荷兰国际集团,进入高阻抗状态,并从开始腐烂了
输出高电平或低电平电压。输出禁止时间t
DIS
区别
t
DIS_MEASURED
t
衰变
如左图所示
t
DIS
=
t
DIS_MEASURED
t
衰变
的时间由该总线上的电压衰减
V
依赖
对电容性负载
C
L
和负载电流
I
I
。这种衰减时间
可以近似由下式:
t
衰变
=
C
L
V
 
I
L
牧师ħ
|页46 64 | 2011年1月