R
Platform Flash在系统可编程配置PROM
平台闪存PROM TAP特点
该平台闪存PROM家庭进行无论是在系统
编程和IEEE 1149.1边界扫描( JTAG )测试
通过一个单一的4线测试访问端口( TAP ) 。这简化了
系统设计和允许标准的自动测试
设备来执行两种功能。 AC特性
该平台闪存PROM TAP的描述如下。
X -参考目标 - 图4
TAP时序
示出了TAP信号的时序关系。
这些TAP时序特性是相同的两个
边界扫描和ISP业务。
T
CKMIN
TCK
T
MSS
T
MSH
TMS
T
DIS
T
DIH
TDI
T
DOV
TDO
DS123_04_031808
图4:
测试访问端口时序
TAP AC参数
显示时序参数中显示的波形TAP
表10:
测试访问端口时序参数
符号
T
CKMIN
T
MSS
T
MSH
T
DIS
T
DIH
T
DOV
描述
TCK最小时钟周期时, V
CCJ
= 2.5V或3.3V
TMS建立时间当V
CCJ
= 2.5V或3.3V
TMS的保持时间当V
CCJ
= 2.5V或3.3V
TDI建立时间时, V
CCJ
= 2.5V或3.3V
TDI保持时间当V
CCJ
= 2.5V或3.3V
TDO有效的延迟时, V
CCJ
= 2.5V或3.3V
民
67
8
25
8
25
–
最大
–
–
–
–
–
22
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
DS123 ( v2.13.1 ) 2008年4月3日
产品speci fi cation
9