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TMS570LS3137 参数 Datasheet PDF下载

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型号: TMS570LS3137
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内容描述: TMS570LS3137 16位/ 32位RISC闪存微控制器 [TMS570LS3137 16/32-Bit RISC Flash Microcontroller]
分类和应用: 闪存微控制器
文件页数/大小: 159 页 / 2834 K
品牌: TI [ TEXAS INSTRUMENTS ]
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TMS570LS3137  
www.ti.com  
SPNS162.SEPTEMBER 2011  
2.4.2.18 Test and Debug Modules Interface  
Table 2-40. ZWT Test and Debug Modules Interface  
Terminal  
Signal  
Type  
Default  
Pull State  
Pull Type  
Description  
Signal Name  
337  
ZWT  
TEST  
nTRST  
RTCK  
TCK  
U2  
I/O  
Input  
Output  
Input  
I/O  
Pull Down Fixed, 100uA  
Test enable  
D18  
A16  
B18  
A17  
C18  
C19  
JTAG test hardware reset  
JTAG return test clock  
JTAG test clock  
-
-
Pull Down Fixed, 100uA  
Pull Up  
TDI  
JTAG test data in  
JTAG test data out  
JTAG test select  
TDO  
I/O  
Pull Down  
TMS  
I/O  
Pull Up  
2.4.2.19 Flash Supply and Test Pads  
Table 2-41. ZWT Flash Supply and Test Pads  
Terminal  
Signal  
Type  
Default  
Pull State  
Pull Type  
Description  
Signal Name  
337  
ZWT  
VCCP  
FLTP1  
FLTP2  
F8  
J5  
Input  
-
-
Flash pump supply  
Flash test pads. These  
terminals are reserved for  
TI use only. For proper  
operation these terminals  
must connect only to a  
test pad or not be  
H5  
connected at all [no  
connect (NC)].  
Copyright © 2011, Texas Instruments Incorporated  
Device Package and Terminal Functions  
37  
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