108-94268
3.5
Test Requirements and Procedures Summary
Testanforderungen und Testergebnisse
Not shown test-details see LV214 / March 2010.
Nicht angegebene Einzelheiten der Prüfungen siehe LV214 / März 2010.
Table 6: Test Requirements and procedures Summary
Tabelle 6: Testanforderung und Ergebnisse
Test Description
Requirement
Procedure
Testbeschreibung
Anforderung
Verfahren
PG 0
RECEIVING INSPECTION EINGANGSPRÜFUNG
E 0.1
Basic function proven
LV215-2
Visual inspection
Sichtprüfung
Grundfunktion gegeben
DIN EN 60512-1-1
E 0.2
● Contact ≤0.36mΩ (50mm²); ≤0.39mΩ
(35mm²)²); ≤0.40mΩ (25mm²)
Kontakt ≤0.36mΩ (50mm²); ≤0.39mΩ (35mm²);
≤0.40mΩ (25mm²)
LV215-2
DIN EN 60512-2-1
Contact resistance
Durchgangswiderstand
● HVIL-contact ≤15mΩ
HVIL-Kontakt ≤15mΩ
● Shielding cable – Header < 7mΩ
Schirmung Leitung - Stiftleiste < 7mΩ
E 0.3
● Insulation resistance at 1kVDC: >200MΩ
LV215-2
Insulation resistance
Isolationswiderstand
Isolationswiderstand bei 1kVDC: >200MΩ
DIN EN 60512-3-1
PG 4
CONTACT OVERLAPPING KONTAKTÜBERDECKUNG
E 4.1
Values see appendix 5.3
Theoretical study
Contact engagement length
Werte siehe Anhang 5.3
Theoretische Studie
Kontaktüberdeckung
PG 6
INTERACTION BETWEEN CONTACT AND HOUSING
WECHSELWIRKUNG ZWISCHEN KONTAKT UND GEHÄUSE
E 6.1
● No damage during joining
Theoretical study
Deflection of contacts in the
Keine Möglichkeit der Schädigung beim Fügen
Theoretische Studie
housing cavity
Taumelspiele der Kontakte in
der Gehäusekammer
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Rev H
TE [ TE CONNECTIVITY ]
