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    STM32F103C8T7 参数 Datasheet PDF下载

    STM32F103C8T7图片预览
    型号： STM32F103C8T7
    PDF下载： 下载PDF文件 查看货源
    内容描述： 中密度高性能线的基于ARM的32位MCU，具有64或128 KB的闪存， USB ， CAN ，7个定时器， 2的ADC ， 9融为一体。接口 [Medium-density performance line ARM-based 32-bit MCU with 64 or 128 KB Flash, USB, CAN, 7 timers, 2 ADCs, 9 com. interfaces]
    分类和应用： 闪存
    文件页数/大小： 105 页 / 1316 K
    品牌： STMICROELECTRONICS [ STMICROELECTRONICS ]
     浏览型号STM32F103C8T7的Datasheet PDF文件第73页浏览型号STM32F103C8T7的Datasheet PDF文件第74页浏览型号STM32F103C8T7的Datasheet PDF文件第75页浏览型号STM32F103C8T7的Datasheet PDF文件第76页浏览型号STM32F103C8T7的Datasheet PDF文件第78页浏览型号STM32F103C8T7的Datasheet PDF文件第79页浏览型号STM32F103C8T7的Datasheet PDF文件第80页浏览型号STM32F103C8T7的Datasheet PDF文件第81页  
    STM32F103x8 ， STM32F103xB
    公式1：R
    艾因
    最大的公式：
    T
    S
    R
    艾因
    ＆ LT ;
    --------------------------------------------------------------- –
    R
    ADC
    -
    N+2
    f
    ADC
    ×
    C
    ADC
    ×
    ln
    (
    2
    )
    电气特性
    上述（方程公式
    1)
    用于确定允许的最大外部阻抗
    误差低于1/4 LSB 。在这里， N = 12 （ 12位分辨率） 。
    表47 。
    R
    艾因
    MAX对于f
    ADC
    = 14 MHz的
    (1)
    T
    s
    （周期）
    t
    S
    (µs)
    0.11
    0.54
    0.96
    2.04
    2.96
    3.96
    5.11
    17.1
    0.4
    5.9
    11.4
    25.2
    37.2
    50
    NA
    NA
    R
    艾因
    MAX（ kΩ的）
    1.5
    7.5
    13.5
    28.5
    41.5
    55.5
    71.5
    239.5
    1.基于特征，而不是在生产测试。
    表48 。
    符号
    ET
    EO
    EG
    ED
    EL
    ADC的精度 - 有限的测试条件
    (1) (2)
    参数
    总非调整误差
    偏移误差
    增益误差
    微分线性误差
    积分非线性误差
    测试条件
    f
    PCLK2
    = 56 MHz时，
    f
    ADC
    = 14兆赫，R
    艾因
    < 10千欧
    ,
    V
    DDA
    = 3 V至3.6 V
    T
    A
    = 25 °C
    经过测量，取得了
    ADC校准
    典型值
    ±1.3
    ±1
    ±0.5
    ±0.7
    ±0.8
    最大
    (3)
    ±2
    ±1.5
    ±1.5
    ±1
    ±1.5
    最低位
    单位
    1. ADC的直流精度值的内部校准后测量。
    2. ADC精度与负电流注入：注入负电流在任何模拟输入引脚应
    避免，因为这显著降低了转换精度上的另一个模拟正在执行
    输入。推荐的肖特基二极管（引脚接地）添加到模拟引脚可能潜在地注入
    负电流。
    因为我规定的范围内的任何积极的注入电流
    INJ （ PIN）
    和
    ΣI
    INJ （ PIN）
    in
    第5.3.12
    不
    影响ADC精度。
    3.基于特征，而不是在生产测试。
    文档ID 13587牧师15
    77/105

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