欢迎访问ic37.com |
会员登录 免费注册
发布采购

HEF4053BT-Q100J 参数 Datasheet PDF下载

HEF4053BT-Q100J图片预览
型号: HEF4053BT-Q100J
PDF下载: 下载PDF文件 查看货源
内容描述: [HEF4053B-Q100 - Triple single-pole double-throw analog switch SOP 16-Pin]
分类和应用: 光电二极管
文件页数/大小: 19 页 / 170 K
品牌: PHILIPS [ NXP SEMICONDUCTORS ]
 浏览型号HEF4053BT-Q100J的Datasheet PDF文件第2页浏览型号HEF4053BT-Q100J的Datasheet PDF文件第3页浏览型号HEF4053BT-Q100J的Datasheet PDF文件第4页浏览型号HEF4053BT-Q100J的Datasheet PDF文件第5页浏览型号HEF4053BT-Q100J的Datasheet PDF文件第7页浏览型号HEF4053BT-Q100J的Datasheet PDF文件第8页浏览型号HEF4053BT-Q100J的Datasheet PDF文件第9页浏览型号HEF4053BT-Q100J的Datasheet PDF文件第10页  
NXP Semiconductors
HEF4053B-Q100
Triple single-pole double-throw analog switch
Table 6.
Static characteristics
…continued
V
SS
= V
EE
= 0 V; V
I
= V
SS
or V
DD
unless otherwise specified.
Symbol Parameter
I
S(OFF)
OFF-state
leakage
current
Conditions
V
DD
T
amb
=
40 C
T
amb
= 25
C
Min
Z port;
15 V
all channels OFF;
see
Y port;
per channel;
see
I
DD
supply current I
O
= 0 A
15 V
-
Max
-
Min
-
Max
1000
T
amb
= 85
C
T
amb
= 125
C
Unit
Min
-
Max
-
Min
-
Max
-
nA
-
-
-
200
-
-
-
-
nA
5V
10 V
15 V
-
-
-
-
5
10
20
-
-
-
-
-
5
10
20
7.5
-
-
-
-
150
300
600
-
-
-
-
-
150
300
600
-
A
A
A
pF
C
I
input
capacitance
Sn, E inputs
-
10.1 Test circuits
V
DD
V
DD
or V
SS
I
S
V
DD
VO
S1 to S3
nZ
E
nY0
nY1
1
2
switch
V
SS
= V
EE
VI
001aaj900
Fig 8.
Test circuit for measuring OFF-state leakage current Z port
V
DD
V
DD
or V
SS
S1 to S3
nZ
E
nY0
nY1
1
2
switch
I
S
V
SS
VI
V
SS
= V
EE
VO
001aaj901
Fig 9.
Test circuit for measuring OFF-state leakage current nYn port
HEF4053B_Q100
All information provided in this document is subject to legal disclaimers.
© NXP B.V. 2013. All rights reserved.
Product data sheet
Rev. 1 — 22 February 2013
6 of 19