ADC0831/ADC0832/ADC0834/ADC0838
AC特性
以下规格适用于V
CC
= 5V ，T
r
= t
f
= 20 ns到25 ℃，除非另有规定。
典型值
参数
f
CLK
，时钟频率
t
C
，转换时间
时钟占空比
t
建立
， CS下降沿或
数据输入有效到CLK
上升沿
t
HOLD
，数据输入有效
CLK上升沿后
t
pd1
, t
pd0
- CLK下降
边到输出数据有效
t
1H
, t
0H
- 瑞星边缘
CS到数据输出和
SARS高阻
C
IN
逻辑，电容
输入
C
OUT
逻辑，电容
输出
注1 ：
最大极限值是指超出这可能会损坏设备的限制。操作时，直流和交流电气规格不适用
该设备超出规定的操作条件。
注2 ：
所有电压都相对于地面的插头。
注3 ：
内部的齐纳二极管（ 6.3至8.5V ） ，从V +连接到GND和V
CC
到GND 。在V +的稳压可以作为一个分流调节器和连接
到V
CC
通过传统的二极管。由于齐纳电压等于A / D的击穿电压时，二极管可以确保V
CC
将低于击穿时，该设备
从V +供电。因此，功能保证了V +的操作，即使在V所产生的电压
CC
可能会超过6.5V的指定绝对最大值。
建议在一个电阻用来限制最大电流为V + 。 （见
在功能描述第6.0节）
注4 ：
当输入电压（V
IN
）在任何引脚超过电源轨（V
IN
＆ LT ;
V
−
或V
IN
＆ GT ;
V
+
）电流在该销的绝对值应限制
到5 mA或更小。 20mA的包的输入电流限制引脚可超过该电源的边界用5毫安的电流限制到4的数。
注5 ：
人体模型， 100pF的放电通过1.5 kΩ电阻。
注6 ：
总非调整误差包括偏移，满量程，线性和多路复用器错误。
注7 ：
不能为ADC0832测试。
注8 ：
对于V
IN
(−)≥V
IN
（ + ）数字输出代码将是0000 0000芯片上集成两个二极管连接到每个模拟输入（见框图），将转发行为
对于模拟输入电压低于地面的一个二极管压降或一个二极管的压降大于在V
CC
供应量。要注意，在测试过程中低V
CC
水平（ 4.5V ） ，高
电平模拟输入（5V）可引起该输入二极管导通 - 尤其是在升高的温度下，并导致对接近满量程模拟输入错误。该规范
允许使用二极管的50毫伏正向偏置。这意味着，只要在模拟V
IN
或V
REF
不超过超过50毫伏，输出电源电压
代码是正确的。为了实现一种绝对的0 V
DC
到5伏
DC
因此，输入电压范围要求的4.950伏的最小电源电压
DC
过温
变化，初始容差和负载。
注9 ：
测量泄漏电流与时钟不进行切换。
注10 ：
将40 ％至60％的时钟占空比范围可确保正确的操作，在所有的时钟频率。在该可用的时钟具有占空比的这些以外的情况下
限，最小，时间时钟是高或最低时的时钟为低电平必须至少为1微秒。最长时间的时钟可以是高是60微秒。时钟
当低，只要在模拟输入电压保持稳定，可以停止。
注11 ：
因为数据， MSB在前，是在逐次逼近循环，附加延迟是建立在使用比较器的输出（见框图），以允许
比较器的响应时间。
注12 ：
标准被定在25℃，代表最可能的参数指标。
注13 ：
测试的范围，保证国家的AOQL （平均出厂质量水平） 。
注14 ：
保证，但不是100 ％生产测试。这些限制不用于计算呼出的质量水平。
经过测试
极限
10
设计
极限
极限
单位
千赫
条件
民
最大
不包括MUX寻址时间
民
最大
400
8
40
60
250
千赫
1/f
CLK
%
%
ns
90
C
L
= 100 pF的
数据的MSB首先
数据LSB优先
C
L
= 10 pF的，R
L
=10k
（见TRI -STATE
®
测试电路）
C
L
= 100 pF的，R
L
=2k
5
5
500
650
250
125
1500
600
250
ns
ns
ns
ns
ns
pF
pF
www.national.com
6
NSC [ NATIONAL SEMICONDUCTOR ]
