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    HI-3001CRIF 参数 Datasheet PDF下载

    HI-3001CRIF图片预览
    型号： HI-3001CRIF
    PDF下载： 下载PDF文件 查看货源
    内容描述： [DATACOM, INTERFACE CIRCUIT, CDIP8, ROHS COMPLIANT, CERAMIC, DIP-8]
    分类和应用： 电信电信集成电路
    文件页数/大小： 13 页 / 78 K
    品牌： HOLTIC [ HOLT INTEGRATED CIRCUITS ]
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    HI-3000, HI-3001, HI-3002
    Application and Test Information
    Transceiver
    TXD
    V
    1
    R
    L
    V
    O(CANH)
    V
    O(CANL)
    V
    DIFF(d)(o)
    STB
    V
    OC(ss)
    = V
    O(CANH)
    + V
    O(CANL)
    2
    Figure 5. Common Mode Output Voltage Test.
    Transceiver
    TXD
    CANH
    +
    _
    V
    1
    CANL
    -58V or +58V
    Figure 6. CAN Bus Driver Short-Circuit Test. (Note: V1 is a pulse from 0V to V
    DD
    with duty cycle
    of 99% such that permanent dominant time-out is avoided).
    HOLT INTEGRATED CIRCUITS
    8

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