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EN25QH32-104QIP 参数 Datasheet PDF下载

EN25QH32-104QIP图片预览
型号: EN25QH32-104QIP
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内容描述: 32兆位串行闪存与4K字节扇区制服 [32 Megabit Serial Flash Memory with 4Kbyte Uniform Sector]
分类和应用: 闪存
文件页数/大小: 63 页 / 1168 K
品牌: EON [ EON SILICON SOLUTION INC. ]
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EN25QH32  
Table 15. DATA RETENTION and ENDURANCE  
Parameter Description  
Test Conditions  
Min  
Unit  
150°C  
10  
Years  
Data Retention Time  
125°C  
20  
Years  
cycles  
Erase/Program Endurance  
-40 to 85 °C  
100k  
Table 16. CAPACITANCE  
( VCC = 2.7-3.6V)  
Parameter Symbol  
Parameter Description  
Test Setup  
Max  
Unit  
C
IN  
V
IN  
= 0  
Input Capacitance  
6
pF  
C
OUT  
V
OUT  
= 0  
Output Capacitance  
8
pF  
Note : Sampled only, not 100% tested, at T = 25°C and a frequency of 20MHz.  
A
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or modifications due to changes in technical specifications.  
©2004 Eon Silicon Solution, Inc., www.eonssi.com  
55  
Rev. E, Issue Date: 2012/01/30  
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