电气规格
T
J
= T
C
= T
A
= +25
°C
, V
EE
=–5.2 V, V
RB
=–2.0 V, V
RM
=–1.0 V, V
RT
=0.00 V, ƒ
CLK
= 1 GHz的，占空比= 50％时，除非另有规定。
参数
动态性能
无杂散动态范围
ƒ
IN
= 50 MHz的
ƒ
IN
= 250兆赫
数字输入
输入高电压
（ CLK ，
CLK
)
输入低电压
（ CLK ，
CLK
)
时钟脉冲宽高（T
威尔斯亲王医院
)
时钟脉冲宽度低（T
PWL
)
数字输出
逻辑1电压
逻辑0电压
上升时间
下降时间
电源要求
电压V
EE
电流I
EE
功耗
TEST
条件
TEST
水平
SPT7760A
民
典型值
最大
SPT7760B
民
典型值
最大单位
I
I
47
39
43
35
dB
dB
I
I
I
I
I
I
V
V
IV
I
I
–1.1
0.5
0.5
–1.1
–0.7
–1.8
0.4
0.4
–0.9
–1.8
450
450
–5.2
1.05
5.5
–1.5
–1.1
0.5
0.5
–1.1
–1.5
–0.7
–1.8
0.4
0.4
–0.9
–1.8
450
450
–5.2
1.05
5.5
–1.5
V
V
ns
ns
V
V
ps
ps
–1.5
20 ％至80％
20 ％至80％
–4.95
–5.45
1.2
6.25
–4.95
–5.45 V
1.2 A
6.25 W
典型的热阻抗：
θ
JC
= +4
° C / W 。
测试级别码
所有的电气特性都受到了
以下条件：
具有最小/最大规格的所有参数
有保证。测试级别列indi-
凯茨特定设备的测试实际上per-
生产和质量保证方面形成过程
ANCE检查。数据中的任何空白部分
列指示该规格不
在指定的条件下测试。
除非另有说明，所有试验是脉冲
试验;因此，T
J
= T
C
= T
A
.
水平
I
II
III
IV
V
VI
测试程序
100％的产品在特定温度下进行测试。
在T 100 ％生产测试
A
= +25
°C,
和样品的测试
特定网络版温度。
质量保证样品只在指定的温度下进行测试。
参数保证（但不是测试）在设计和characteri-
矩阵特殊积的数据。
参数仅供参考的典型值。
在T 100 ％生产测试
A
= +25
°C.
参数保证
在规定的温度范围内。
3
SPT7760
2002年10月
CADEKA [ CADEKA MICROCIRCUITS LLC. ]
