29C516E
16位流通型EDAC
错误检测和校正单位
1.引言
该29C516E
ATMEL
EDAC是一个非常低的功率
流过的16位错误检测和校正单元
（ EDAC）的两个用户数据总线。经发用在
用于监视和校正的高完整性系统
数据值从存储器空间来。在一
处理器写周期，在每个存储单元（ 16位
宽） ，EDAC计算校验码（ 6位或8位宽度）为
补充说。当从存储器进行读操作时，
在29C516E验证整个校验码和数据
组合。它可以检测并能纠正所有的100 ％
单比特错误和检测所有双位错误。
当29C516E利用6校验字，它可以检测任何
错误在任何一个4位的存储器芯片。 8校验位
期权赋予检测所有错误的附加功能
对任何一个8位的存储器芯片。所有错误都
（通过2个错误标志），以便发出信号到主站系统
以允许所述处理器进行所需的操作。
该29C516E工作在两种模式：更正
或检测模式。在校正模式中，在单位
错误的补充（修正） 。然后，可用
整个数据被放置在输出端口和所述可校正上
错误标志被设置。的情况下的双位错误（或更多）的，
损坏的数据被放置在输出端口和上
无法纠正的错误标志被设置。需要注意的是，当有
两个以上的错误，那么某些位模式可能会出现
尽可能可纠正的错误。因此，如果
环境会产生这种类型的错误， EDAC必须
在用于检测并没有提供自动校正。
数据证分析必须做到的。
该29C516E充当一个数据缓冲器
μP内存
连接。甲流通EDAC被放置在数据
总线路径，所述处理器和存储器之间是
受保护的。该组成部分能够在服务于两个不同的
用户的一个存储空间。因此，它形成了界面
22位/ 24位（16 + 6/ 16 + 8）存储器数据总线之间，并
两个16位处理器的数据总线的高驱动器
能力（ -12.8毫安） 。的两个数据端口可用于
中的存储空间前面创建双端口总线。该
用户- 1（2）可以从/数据传输到存储器或
从/到用户-2 （1） ，通过绕过存储器。中
读取或写入的用户-1 （ 2 ）处理存储周期，
用户- 2 （ 1 ）要听的可能性
传送的数据。
2.特点
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超低功耗CMOS
有6个或8个校验位的16位工作
快速错误检测： 31纳秒（最大）
快速纠错： 32纳秒（最大）
所有校正单比特错误
检测所有双位错误
一些检测多比特错误
检测到芯片错误（ X1，X4 & ×8 RAM格式）
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可纠正和不可纠正的错误标志
两个用户数据总线
用户到用户的传输和聆听操作
在公交车的高驱动能力： -12.8毫安
TTL兼容
单5V
±10%
电源
100引脚多层四方扁平封装
（扁平引线或L含铅） 。
Atmel公司
启示录
E
(03
2007)
1
ATMEL [ ATMEL CORPORATION ]
