我ntegrator S系列钢板˚F PG A S ： 1 2 0 0 XL和3 2 0 0 DXF amilies
编程算法。该结构是高度可测试
因为没有预先存在的连接;因此，
暂时连接可以用传递晶体管制成。
这些临时连接可以分离单个
反熔丝被编程和单个电路
结构进行测试，其可前后进行
编程。例如，所有的金属轨道可以进行测试
连续性和相邻轨道之间的短裤，与
所有的逻辑模块的功能可以被验证。
时钟网络
CLKB
CLKA
从
PADS
CLKMOD
CLKINB
CLKINA
S0
S1
国内
信号
CLKO(17)
时钟
DRIVERS
CLKO(16)
CLKO(15)
两个低偏移，高扇出时钟分配网络是
在每个3200DX设备提供。这些网络
称为CLK0和CLK1 。每个网络都有一个时钟
模块（ CLKMOD ） ，其选择的时钟源
信号，并且可以被驱动，如下所示：
1.
2.
3.
4.
从外部的CLKA垫
从外部的CLKB垫
来自内部的CLKINA输入
来自内部的CLKINB输入
图7 -
时钟网络
CLKO(2)
CLKO(1)
时钟曲目
时钟模块位于I的第一行中的输入/输出
模块。时钟驱动器和专用的水平时钟
轨道分别位于每个水平路由通道。
用户控制时钟模块通过选择的两个一
钟宏从宏观库。宏CLKBUF是
用于连接的两个外部时钟引脚1到时钟
网络，和宏CLKINT用于连接一个
内部生成的时钟信号的时钟网。自
两个时钟网络是相同的，用户并不关心
是否CLK0或CLK1被使用。时钟输入焊盘
也可以用作普通的I / O ，绕过时钟
网络（见
包含SRAM模块3200DX设备（所有
除了A3265DX和A32140DX ）有四个额外
寄存器控制的资源，被称为象限时钟网络
每个象限时钟提供一个本地
高扇出资源内的连续逻辑模块
其象限器件。象限时钟信号可以
从特定的I / O引脚或内部数组起源
并且可以作为一个辅助寄存器时钟，寄存器
清除或输出使能。
测试电路
IEEE标准1149.1边界扫描测试（ BST ）
IEEE标准1149.1定义了一个四针测试访问端口
（ TAP）的接口，用于在一个系统测试集成电路。
该3200DX的家庭提供了五种BST引脚：测试数据
（TDI），测试数据输出（TDO ） ，测试时钟（TCK ）和测试
模式选择测试复位（ TRST ） （ 3200DX24A只） 。设备
被配置在一个测试“产业链” ，其中BST数据可以
通过TDO到TDI的设备之间的串行传送
互连。在TMS和TCK信号共享
在测试链上的所有设备之间，使所有组件
操作在相同的状态。
该3200DX的家庭实现了IEEE的一个子集
除了私有标准1149.1 BST指令
指令，它允许使用Actel的ActionProbe的
设施与BST 。参考IEEE标准1149.1
规范对BST的详细信息。
边界扫描电路
所有设备包括Actel的ActionProbe测试电路，
测试和一旦被编程到设备调试设计。
一旦设备被编程， ActionProbe测试
电路，使设计人员能够探测任何内部节点
设备运行期间，以帮助调试设计。在
此外， 3200DX设备包含IEEE标准1149.1
边界扫描测试的电路。
该3200DX边界扫描电路包括一个测试
访问端口（ TAP ）控制器，测试指令寄存器，
JProbe的寄存器，旁路寄存器和边界扫描
注册。
示出的方框图
3200DX边界扫描电路。
当设备中的BST模式操作时，四个I / O引脚
用于TDI， TDO，TMS和TCK信号。一个活跃
复位（ nTRST信号）引脚不支持;然而， 3200DX
器件包含上电电路，复位边界
在上电时的扫描电路。
总结在IEEE 1149.1的BST信号的功能。
停产 - V3.0
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ACTEL [ Actel Corporation ]
