MSP430x13x ， MSP430x14x ， MSP430x14x1
混合信号微控制器
SLAS272F - 2000年7月 - 修订2004年6月
终端功能（续）
MSP430x13x ， MSP430x14x （续）
终奌站
名字
P5.6/ACLK
P5.7/TBOUTH
P6.0/A0
P6.1/A1
P6.2/A2
P6.3/A3
P6.4/A4
P6.5/A5
P6.6/A6
P6.7/A7
RST / NMI
TCK
TDI / TCLK
TDO / TDI
TMS
VeREF +
VREF +
VREF- / VeREF-
XIN
XOUT
XT2IN
XT2OUT
QFN垫
号
50
51
59
60
61
2
3
4
5
6
58
57
55
54
56
10
7
11
8
9
53
52
NA
I / O
I / O
I / O
I / O
I / O
I / O
I / O
I / O
I / O
I / O
I / O
I
I
I
I / O
I
I
O
I
I
O
I
O
NA
描述
通用数字I / O引脚/辅助时钟ACLK输出
通用数字I / O引脚/开关PWM全数字输出端口，为高阻抗 - Timer_B7 ： TB0到
TB6
通用数字I / O引脚/模拟输入A0 - 12位ADC
通用数字I / O引脚/模拟输入A1 - 12位ADC
通用数字I / O引脚/模拟输入A2 - 12位ADC
通用数字I / O引脚/模拟输入A3 - 12位ADC
通用数字I / O引脚/模拟输入A4 - 12位ADC
通用数字I / O引脚/模拟输入A5 - 12位ADC
通用数字I / O引脚/模拟输入A6 - 12位ADC
通用数字I / O引脚/模拟输入A7 - 12位ADC
复位输入，不可屏蔽中断输入口，或引导加载程序启动（闪存设备） 。
测试时钟。 TCK是用于器件编程测试以及引导加载程序启动时钟输入端口（在Flash
设备）。
测试数据输入或测试时钟输入。该器件保护熔丝连接到TDI / TCLK 。
测试数据输出端口。 TDO / TDI数据输出或编程数据输入端
测试模式选择。 TMS用作器件编程和测试输入端口。
输入外部参考电压到ADC
基准电压在ADC的正端子的输出
为ADC的参考电压为源，内部参考电压或负端
外部施加的基准电压
输入端口，用于晶体振荡器XT1 。标准或手表晶体可以连接。
晶体振荡器XT1的输出端
输入端口，用于晶体振荡器XT2 。唯一的标准晶体可以被连接。
晶振XT2输出端子
QFN封装焊盘连接到DVSS建议。
8
邮政信箱655303
•
达拉斯，德克萨斯州75265
TI [ TEXAS INSTRUMENTS ]
