SNVS774L - 2004年5月 - 修订2011年2月
这些器件具有有限的内置ESD保护。引线应短接在一起或设备放置在导电泡棉
储存或搬运过程中，以防止对静电损坏MOS大门。
绝对最大额定值
(1) (2)
功耗
输入输出电压差
储存温度
焊接温度
ESD容差
(1)
(2)
(3)
(3)
内部限制
+40V,
−0.3V
−65°C
至+ 150°C
金属包装（焊接， 10秒）
塑料包装（焊接， 4秒）
300°C
260°C
3千伏
最大极限值是指超出这可能会损坏设备的限制。工作额定值表明条件
该装置旨在是功能性的，但不保证特定性能极限。为保证规范和测试
条件，请参阅电气特性。所确保的规范仅适用于列出的测试条件。
如果是用于军事/航空专用设备，请向德州仪器销售办事处/经销商咨询具体可用性和
特定连接的阳离子。
人体模型， 100pF的放电通过1.5 kΩ电阻。
工作温度范围
LM117
LM317A
LM317-N
预处理
热限制老化测试
所有设备100 ％
−55°C ≤
T
J
≤
+150°C
−40°C ≤
T
J
≤
+125°C
0°C
≤
T
J
≤
+125°C
LM117电气特性
(1)
产品规格与标准型面为T
J
= 25 ，和那些与
黑体字
申请过
整个工作
温度范围。
除非另有规定ED ，V
IN
−
V
OUT
= 5V ，而我
OUT
= 10 mA的电流。
参数
参考电压
线路调整
负载调整率
热调节
调节引脚电流
调节引脚电流变化
温度稳定性
最小负载电流
10毫安
≤
I
OUT
≤
I
最大
3V
≤
(V
IN
−
V
OUT
)
≤
40V
T
民
≤
T
J
≤
T
最大
(V
IN
−
V
OUT
) = 40V
(V
IN
−
V
OUT
)
≤
15V
电流限制
(V
IN
−
V
OUT
) = 40V
RMS输出噪声， ％V的
OUT
10赫兹
≤
f
≤
10千赫
NDS包
无损检测， NAJ套餐
NDS包
无损检测， NAJ套餐
1.5
0.5
0.3
0.15
(1)
条件
3V
≤
(V
IN
−
V
OUT
)
≤
40V,
10毫安
≤
I
OUT
≤
I
MAX （1）
3V
≤
(V
IN
−
V
OUT
)
≤
40V
10毫安
≤
I
OUT
≤
I
MAX （1）
20毫秒的脉冲
(3)
LM117
民
1.20
典型值
1.25
0.01
0.02
0.1
0.3
0.03
50
0.2
1
3.5
2.2
0.8
0.4
0.20
0.003
(2)
最大
1.30
0.02
0.05
0.3
1
0.07
100
5
单位
V
%/V
%
%/W
μA
μA
%
(3)
5
3.4
1.8
mA
A
A
%
(1)
(2)
(3)
4
I
最大
= 1.5A为NDS （TO -3），非驱动端（TO- 220） ，和KTT （ TO-263 ）封装。我
最大
= 1.0A的DCY （ SOT- 223 ）封装。我
最大
= 0.5A
用于无损检测（TO） ，MDT （ PFM）和NAJ （ LCCC ）封装。器件的功耗（P
D
）由环境温度（不限Ť
A
） ，设备
最高结温（T
J
） ，和封装热阻（ θ
JA
） 。在任何的最大允许功耗
温度为：P
D（最大）
= ((T
J（下最大）
- T
A
)/θ
JA
） 。全敏。和Max 。限制以确保TI的平均出厂质量水平（ AOQL ） 。
参阅RETS117H绘制为LM117H或RETS117K为LM117K军用规格。
的测量是在一个恒定的结温，使用脉冲试验在低占空比。由于输出电压的变化
热效应下，规范热调节范围之内。
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