DAC712
SBAS023A - 2000年9月 - 修订2009年7月
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这个集成电路可以被ESD损坏。德州仪器建议所有集成电路与处理
适当的预防措施。如果不遵守正确的操作和安装程序，可以造成损坏。
ESD损害的范围可以从细微的性能下降，完成设备故障。精密集成电路可能会更
容易受到伤害，因为很小的参数变化可能导致设备不能满足其公布的规格。
封装/订购信息
(1)
线性误差最大
AT + 25°C
±4LSB
±4LSB
±2LSB
±2LSB
±2LSB
±2LSB
±2LSB
±2LSB
迪FF erential
线性误差最大
AT + 25°C
±4LSB
±4LSB
±2LSB
±2LSB
±2LSB
±2LSB
±1LSB
±1LSB
套餐 -
领导
PDIP-28
SOIC-28
PDIP-28
SOIC-28
PDIP-28
SOIC-28
PDIP-28
SOIC-28
包
代号
NT
DW
NT
DW
NT
DW
NT
DW
特定网络版
温度范围
-40 ° C至+ 85°C
-40 ° C至+ 85°C
-40 ° C至+ 85°C
-40 ° C至+ 85°C
0 ° C至+ 70°C
0 ° C至+ 70°C
0 ° C至+ 70°C
0 ° C至+ 70°C
产品
DAC712P
DAC712U
DAC712PB
DAC712UB
DAC712PK
DAC712UK
DAC712PL
DAC712UL
(1)
对于最新的封装和订购信息，请参阅封装选项附录本文档的末尾，或见TI
网站：
www.ti.com 。
绝对最大额定值
(1)
DAC712
+V
CC
常见
–V
CC
常见
+V
CC
为±V
CC
数字输入到COMMON
外部施加的电压，以业务流程外包和量程电阻器
V
REF
V
OUT
功耗
存储温度范围
(1)
OUT
单位
V
V
V
V
V
0, +17
0, –17
34
-1至+ V
CC
– 0.7
±V
CC
短不定常见
短不定常见
750
-60到+150
mW
°C
强调以上这些额定值可能会造成永久性的损害。长期在绝对最大条件下工作会
降低设备的可靠性。这些压力额定值只，设备的这些功能操作或以后的任何其他条件
这些规定是不是暗示。
真值表
A
0
A
1
WR
1
→
0
→
1
1
→
0
→
1
1
→
0
→
1
0
1
X
CLR
1
1
1
1
1
0
描述
加载输入锁存
加载D / A锁存器
没有变化
透明锁存器
没有变化
复位D / A锁存器
0
1
1
0
X
X
1
0
1
0
X
X
2
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