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SLUS810A - 2008年9月 - 修订2008年12月
耗散额定值
包
(1)
RGT
(1)
(2)
(2)
R
θJA
39.47 ° C / W
R
θJC
2.4 C / W
额定功率
T
A
≤
25°C
2.3 W
T
A
= 85°C
225mW
对于最新的封装和订购信息，请参阅封装选项附录本文档的末尾，或见TI
网站：
该数据是基于使用JEDEC高K板和裸露的芯片焊盘连接到电路板上铜垫。该垫
通过经由矩阵2×3连接到地平面。
推荐工作条件
民
电压范围
V
I
I
IN
I
OUT
I
BAT
I
CHG
T
J
R
ILIM
R
ISET
R
ITERM
R
TMR
(1)
(2)
工作电压范围
输入电流， IN引脚
目前， OUT引脚
目前， BAT引脚（放电）
目前， BAT引脚（收费）
结温
最大输入电流编程电阻
快速充电电流编程电阻
终止电流编程电阻
定时器编程电阻
(2)
最大
26
6.4
10.2
1.5
4.5
4.5
1.5
(1)
单位
V
V
A
A
A
A
°C
Ω
Ω
kΩ
kΩ
4.35
’72, ’73, ‘75
‘74
4.35
4.35
–40
1100
590
0
18
125
8000
3000
15
72
当在1.5A和125 ℃下的充电集成电路运算充电寿命减少到20,000小时， 。热调节功能可降低
充电电流，如果IC的结温达到125 ℃;因此，如果没有良好的散热设计最大编程充电
目前可能无法达到。
使用1 ％容差电阻的R
ISET
避免使用R问题
ISET
简短测试时使用的最大充电电流设置。
电气特性
在结点温度范围（0 °
≤
T
J
≤
125 ℃）和推荐的电源电压范围（除非另有说明）
参数
输入
UVLO
V
HYS
V
IN（ DT ）
V
HYS
t
DGL （ PGOOD ）
V
OVP
V
HYS
t
DGL （ OVP ）
t
REC
欠压锁定
迟滞的UVLO
输入功率检测阈值
滞后于V
IN（ DT ）
抗尖峰脉冲时间，输入功率检测
状态
输入过压保护门限
滞后的OVP
V
IN
: 0 V
→
4 V
V
IN
: 4 V
→
0 V
检测到的输入功率时， V
IN
＆ GT ; V
BAT
+ V
IN（ DT ）
V
BAT
= 3.6 V ， VIN ： 3.5 V
→
4 V
V
BAT
= 3.6 V, V
IN
: 4 V
→
3.5 V
从V测时间
IN
: 0 V
→
5 V 1
µs
上升时间为PGOOD = LO
(’72, ’73, ’75) V
IN
: 5 V
→
7 V
(’74) V
IN
: 5 V
→
11 V
(’72, ’73, ’75) V
IN
: 7 V
→
5V
(’74) V
IN
: 11 V
→
5 V
输入过压消隐时间（ OVP
故障抗尖峰脉冲）
输入过压恢复时间
从V测时间
IN
: 11 V
→
5 V 1
µs
下降时间为PGOOD = LO
6.4
10.2
3.2
200
55
20
4
6.6
10.5
110
175
50
µs
6.8
10.8
80
3.3
3.4
300
130
V
mV
mV
mV
ms
V
mV
测试条件
民
典型值
最大
单位
2
ms
ILIM ， ISET短路检测（选中启动期间）
I
SC
V
SC
电流源
V
IN
> UVLO和V
IN
＆ GT ; V
BAT
+ V
IN（ DT ）
V
IN
> UVLO和V
IN
＆ GT ; V
BAT
+ V
IN（ DT ）
1.3
520
mA
mV
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3
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