SBAS456A - 2008年12月 - 修订十月2009..........................................................................................................................................
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这个集成电路可以被ESD损坏。德州仪器建议所有集成电路与处理
适当的预防措施。如果不遵守正确的操作和安装程序，可以造成损坏。
ESD损害的范围可以从细微的性能下降，完成设备故障。精密集成电路可能会更
容易受到伤害，因为很小的参数变化可能导致设备不能满足其公布的规格。
订购信息
(1)
T
A
最大
积分
线性误差
（ LSB ）
±2
±1
包
(2)
订购
产品型号
ADS7828EIPWRQ1
ADS7828EBIPWRQ1
顶部端标记
7828EI
预览
-40 ° C至85°C
(1)
(2)
TSSOP - PW
2500卷
对于最新的封装和订购信息，请参阅封装选项附录本文档的末尾，或见TI
网站：
包装图纸，热数据和符号可在
PW包
（ TOP VIEW ）
CH0
CH1
CH2
CH3
CH4
CH5
CH6
CH7
1
2
3
4
5
6
7
8
16
15
14
13
12
11
10
9
+V
DD
SDA
SCL
A1
A0
COM
REF
IN
/ REF
OUT
GND
终端功能
终奌站
名字
CH0
CH1
CH2
CH3
CH4
CH5
CH6
CH7
GND
REF
IN
/ REF
OUT
COM
A0
A1
SCL
SDA
+V
DD
号
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
模拟输入通道0
模拟输入通道1
模拟量输入通道2
模拟输入通道3
模拟输入通道4
模拟量输入通道5
模拟量输入通道6
模拟量输入通道7
模拟地
内部2.5 V基准电压源/外部基准输入
常见的模拟输入通道
从机地址位0
从机地址位1
串行时钟
串行数据
供电方面， 3.3 V （标称）
描述
2
产品文件夹链接（ S） ：
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