TABLE I. Electrical performance characteristics - Continued.
│
│
│Symbol
│
│
│
│t
RC
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│t
A
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│t
RR
│
│
│
│
│
│t
PR
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
5/6/
│t
LZR
│
│
│t
DVR
│
│
│
│
│
Conditions 1/
│
-55°C < T
C
< +125°C
│
4.5 V < V
CC
< 5.5 V
│
unless otherwise specified
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│Group
A
│subgroups
│
│
│9,
10, 11
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│9,
10, 11
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│9,
10, 11
│
│
│
│
│
│9,
10, 11
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│9,
10, 11
│
│
│9,
10, 11
│
│
│
│
│
│
Device
│
types
│
│
│
01
│
│
02
│
│
03
│
│
04
│
│
05
│
│
06
│
│
07
│
│
01
│
│
02
│
│
03
│
│
04
│
│
05
│
│
06
│
│
07
│
│
01
│
│
02,03
│
│
04 - 07
│
│
01
│
│
02
│
│
03
│
│
04
│
│
05
│
│
06
│
│
07
│
│
│
All
│
│
│
01 - 06
│
│
│
07
│
│
Limits
│
│
│
Min
│
Max
│
│
│
│
│100
│
│
│
│
80
│
│
│
│
65
│
│
│
│
50
│
│
│
│
40
│
│
│
│
30
│
│
│
│
35
│
│
│
│
│
80
│
│
│
│
65
│
│
│
│
50
│
│
│
│
40
│
│
│
│
30
│
│
│
│
20
│
│
│
│
25
│
│
│
20
│
│
│
│
15
│
│
│
│
10
│
│
│
│
80
│
│
│
│
65
│
│
│
│
50
│
│
│
│
40
│
│
│
│
30
│
│
│
│
20
│
│
│
│
25
│
│
│
│
│
│
3
│
│
│
│
│
│
3
│
│
│
│
│
│
5
│
│
│
│
Unit
│
│
│
│
ns
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
ns
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
ns
│
│
│
│
│
│
ns
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
ns
│
│
│
ns
│
│
│
Test
Read cycle time
Access time
Read recovery time
Read pulse width
Read low to low-Z
Read high to data
valid
See footnotes at end of table.
STANDARD
MICROCIRCUIT DRAWING
DEFENSE SUPPLY CENTER COLUMBUS
COLUMBUS, OHIO 43218-3990
DSCC FORM 2234
APR 97
SIZE
A
REVISION LEVEL
5962-88669
SHEET
E
5
TEMIC [ TEMIC SEMICONDUCTORS ]
