SN8P2808
8-bit micro-controller build-in 4*32 LCD and 12-bit ADC.
10.4 ADB 寄存器
0B2H
ADB
读/写
Bit 7
ADB15
Bit 6
ADB14
Bit 5
ADB13
Bit 4
ADB12
Bit 3
ADB11
Bit 2
ADB10
Bit 1
ADB9
R
-
Bit 0
ADB8
R
-
R
-
R
-
R
-
R
-
R
-
R
-
复位后
Bit[7:0]
ADB[7:0]:ADC 12 位分辨率的高字节数据缓存器。
8 位数据缓存器ADB 用来保存AD 转换结果的高8 位(bit4~bit11),转换结果的低4 位则保存在ADR 寄存器中。
ADB 为只读寄存器,在8 位ADC 模式下,AD 转换结果保存在寄存器ADB 中;在12 位模式下,则分别保存在寄存器ADB
和ADR 中。
AIN 的输入电压v.s. ADB 的输出数据
AIN n
ADB11 ADB10 ADB9 ADB8 ADB7 ADB6 ADB5 ADB4 ADB3 ADB2 ADB1 ADB0
0/4096*VREFH
1/4096*VREFH
0
0
.
0
0
.
0
0
.
0
0
.
0
0
.
0
0
.
0
0
.
0
0
.
0
0
.
0
0
.
0
0
.
0
1
.
.
.
.
.
.
.
.
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.
4094/4096*VREFH
4095/4096*VREFH
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
0
1
针对不同的应用,用户可能需要精度介于8 位到12 位之间的AD 转换器。对于这种情况,可以通过对保存在ADR 和
ADB 中的转换结果进行处理得到。首先,用户必须选择12 位分辨率的模式,进行AD 转换,然后在转换结果中去掉最低
的几位得到需要的结果。如下表所示:
ADB
ADR
ADC 分辨率
ADB11 ADB10 ADB9 ADB8 ADB7 ADB6 ADB5 ADB4 ADB3 ADB2 ADB1 ADB0
8-bit
9-bit
10-bit
11-bit
12-bit
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
O
x
x
x
O
O
O
x
x
x
O
O
x
x
x
x
O
O
O
O
O
O = 可选位,x = 未使用的位
注:寄存器ADB 各位的初始值是未知的。
10.5 P4CON 寄存器
P4 口和ADC 的输入口共享。同一时间只能设置P4 口的一个引脚作为ADC 的测量信号输入口(通过ADM 寄存器来
设置),其它引脚则作为普通I/O 使用。具体应用中,当输入一个模拟信号到CMOS 结构端口,尤其当模拟信号为1/2 VDD
时,将可能产生额外的漏电流。同样,当P4 口外接多个模拟信号时,也会产生额外的漏电流。在睡眠模式下,上述漏电
流会严重影响到系统的整体功耗。P4CON 为P4 口的配置寄存器。将P4CON[7:0]置"1",其对应的 P4 口将被设置为纯模
拟信号输入口,从而避免上述漏电流的情况。
0AEH
P4CON
读/写
Bit 7
P4CON7
R/W
Bit 6
P4CON6
R/W
Bit 5
P4CON5
R/W
Bit 4
P4CON4
R/W
Bit 3
P4CON3
R/W
Bit 2
P4CON2
R/W
Bit 1
P4CON1
R/W
Bit 0
P4CON0
R/W
0
0
0
0
0
0
0
0
复位后
Bit[4:0]
P4CON[4:0]: P4.n 配置控制位。
0 = P4.n 作为模拟输入(ADC 输入)引脚或者数字I/O 引脚;
1 = P4.n 只能作为模拟输入引脚,不能作为数字I/O 引脚。
注:当P4.n 为基本I/O 而不是ADC 通道时,P4CON.n 必须置“0”,否则P4.n 的数字I/O 信号会被隔离。
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