飞利浦半导体
产品数据
单芯片8位微控制器， 10位A / D，
捕捉/比较定时器，高速输出， PWM
80C552/83C552
DC电气特性
（续）
TEST
符号
模拟输入
AI
DD
AI
ID
模拟电源电流：工作： （ 16兆赫）
模拟电源电流：工作： （ 24兆赫）
空闲模式：
P83(0)C552EBx
P83(0)C552EFx
P83(0)C552EHx
P83(0)C552IBx
P83(0)C552IFx
掉电模式：
P83(0)C552xBx
P83(0)C552xFx
P83(0)C552xHx
AV
IN
AV
REF
模拟输入电压
参考电压：
AV
REF-
AV
REF +
AV之间的电阻
REF +
和AV
REF-
模拟量输入电容
采样时间
转换时间（包括采样时间）
微分非线性
10, 11, 12
积分非线性
10, 13
偏移误差
10, 14
增益误差
10, 15
绝对电压误差
10, 16
通道间匹配
AV
SS
–0.2
AV
SS
–0.2
AV
DD
+0.2
10
50
15
8t
CY
50t
CY
±1
±2
±2
±0.4
±3
±1
2 V < AV
PD
＆ LT ; AV
DD
最大
50
50
100
AV
DD
+0.2
µA
µA
µA
V
V
V
kΩ
pF
µs
µs
最低位
最低位
最低位
%
最低位
最低位
港口5 = 0至AV
DD
港口5 = 0至AV
DD
1.2
1.0
50
50
100
50
50
mA
mA
µA
µA
µA
µA
µA
参数
条件
民
范围
最大
单位
AI
PD
R
REF
C
IA
t
ADS
t
ADC
DL
e
IL
e
OS
e
G
e
A
e
M
CTC
C
t
端口输入之间的串扰5
17
0–100kHz
–60
dB
注意事项DC电气特性：
1.请参见图10至15的我
DD
测试条件。
2.工作电源电流测量时，所有输出引脚断开; XTAL1驱动吨
r
= t
f
= 10纳秒; V
IL
= V
SS
+ 0.5 V;
V
IH
= V
DD
- 0.5 V ; XTAL2不连接; EA = RST =口= 0 EW = V
DD
; STADC = V
SS
.
3.空闲模式下电源电流测量时，所有输出引脚断开; XTAL1驱动吨
r
= t
f
= 10纳秒; V
IL
= V
SS
+ 0.5 V;
V
IH
= V
DD
- 0.5 V ; XTAL2不连接;端口0 = EW = V
DD
; EA = RST = STADC = V
SS
.
4.掉电电流测量时，所有输出引脚断开; XTAL2不连接;端口0 = EW = V
DD
;
EA = RST = STADC = XTAL1 = V
SS
.
5. P1.6和P1.7 （ SIO1 ）的输入阈值电压符合我
2
C规范，所以下面1.5伏的输入电压将被识别为一个
逻辑0，而输入电压高于3.0V，将被识别为逻辑1 。
6.销端口1 （除P1.6 ， P1.7 ） ，2，3和4的源时，它们被从外部驱动的1到0的转换的转换电流
电流达到其最大值当V
IN
大约2 V.
7.容性负载，端口0和2会引起寄生噪声对V至叠加
OL
ALE和端口号1和3中的噪声是由于
外部总线电容放电到端口0和端口2引脚时，这些引脚进行期间公交运营1到0的转换。在
最坏的情况下（容性负载> 100 pF）时，在ALE引脚的噪声脉冲可以大于0.8V。在这种情况下，可以期望来限定
ALE带施密特触发器，或者使用一个地址锁存器与施密特触发器选通输入。我
OL
可以超过只要这些条件不
单输出比5毫安下沉越来越不超过两个输出超过试验的条件。
8.电容负载，端口0和2可能会导致V
OH
在ALE和PSEN到瞬间回落0.9 V以下
DD
说明当
地址位稳定。
9.下列条件不得超出： V
DD
- 0.2 V < AV
DD
＆ LT ; V
DD
+ 0.2 V.
10.条件： AV
REF-
= 0 V ; AV
DD
= 5.0 V ， AV
REF +
（ 80C552 ， 83C552 ） = 5.12 V. ADC是单调的，无失码。通过测量
AV的连续转换
IN
= -20 mV到5.12 V在步骤0.5毫伏。
11.微分非线性（DL-
e
）是实际步长宽度与理想步长之间的差。 （参见图1 ）
12. ADC是单调的;还有无失码。
13.积分非线性（伊利诺斯
e
）是实际的和之后的理想传递曲线的步距中心之间的峰值差
增益和偏移误差适当的调整。 （参见图1 ）
2002年9月3日
11
PHILIPS [ NXP SEMICONDUCTORS ]
