LP3961/LP3964
电气特性
LP3961/LP3964
（续）
在标准字体限为T
J
= 25°C ，而在极限
黑体字
申请过
整个工作温度
范围内。
除非另有规定： V
IN
= V
O（ NOM ）
+ 1V ，我
L
= 10毫安，C
OUT
= 10μF ，V
SD
= V
IN
-0.3V.
符号
参数
条件
典型值（注
4)
LP3961/4
（注5 ）
民
5
2
最大
16
8
0.1
%
%
V
µs
nA
mA
单位
错误标志比较器
V
T
V
TH
V
EF （星期六）
Td
I
lk
I
最大
门槛
阈值迟滞
错误标志饱和
标志复位延时
错误标志引脚漏
当前
错误标志引脚吸收
当前
V
错误
=
0.5V
（在
温度）。
V
IN
= V
OUT
+ 1.5V
C
OUT
= 100uF的
V
OUT
= 3.3V
V
IN
= V
OUT
+ 0.3V
C
OUT
= 100uF的
V
OUT
= 3.3V
F = 120Hz的
BW = 10Hz的〜 100kHz的
BW = 300Hz的 - 300kHz的
（注9 ）
（注9 ）
I
SINK
= 100µA
10
5
0.02
1
1
1
AC参数
60
PSRR
纹波抑制
40
dB
ρ
N（ L / F
e
n
输出噪声密度
输出噪声电压
（ RMS）
0.8
150
100
µV
µV
（ RMS）
注1 ：
最大极限值是指超出这可能会损坏设备的限制。工作额定值表明该设备得到更好地条件
往往是功能性的，但并不保证特定性能极限。关于规范保证和测试环境，请参阅电气特性的影响。该瓜尔
规格及担仅适用于列出的测试条件。一些性能特性可能会降低，当设备没有下所列出的测试操作
条件。
注2 ：
在高温下，设备必须基于封装的热电阻降额。在TO220封装的器件必须在被降级
θ
jA
= 50℃ / W的
（与0.5英寸
2
， 1盎司铜的面积） ，结到环境（无散热片） 。在TO263表面贴装封装的器件必须在被降级
θ
jA
= 60℃/ W（与
0.5in
2
， 1盎司铜的面积） ，结点到环境。采用SOT223封装的器件必须在被降级
θ
jA
= 90℃/ W（与0.5英寸
2
， 1盎司铜的面积） ，结点到环境。
注3 ：
人体模型是一个100pF电容通过1.5kΩ电阻向每个引脚放电。
注4 ：
典型值是在25℃，代表最可能的参数指标。
注5 ：
极限是100 ％的产品在25℃的测试。限制在工作温度范围内，通过使用统计质量控制保证
（ SQC ）方法。这些限制是用来计算国内平均出厂质量水平（ AOQL ） 。
注6 ：
如果在一其中所述调节器的负载被返回到负电源的双电源系统所使用的， LP396X输出必须是二极管钳位到地。
注7 ：
输出PMOS结构包含在V之间的二极管
IN
和V
OUT
终端。这个二极管通常反向偏置。该二极管将获得正向偏置
如果在输出端上的电压被强制为比在输入端子的电压高。该二极管通常可以承受直流电流和1Amp 200mA的
的峰值电流。
注8 ：
输出电压线调节被定义为从由于在输入线电压来改变标称值的输出电压的变化。输出电压的负载
调节被定义为从由于在负载电流来改变标称值的输出电压的变化。只有线路和负载调节规范包含
典型的数字。然而，限制线路和负载调节包含在输出电压容差规范。
注9 ：
错误标志阈值和迟滞被指定为调节输出电压的百分比。
注10 ：
电压差被定义为最小的输入到输出的差分电压，这时，输出降低2％以下的标称值。压差电压试样
仅fication适用于2.5V以上的输出电压。对于低于2.5V的输出电压，辍学电压无非是输入到输出的差分，因为
最小输入电压为2.5V 。
注11 ：
该规范已经过测试， -40℃
≤
T
J
≤
由于器件的温度升高85℃是关断的条件下可以忽略不计。
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8
NSC [ NATIONAL SEMICONDUCTOR ]
