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    100355DCQR 参数 Datasheet PDF下载

    100355DCQR图片预览
    型号： 100355DCQR
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    内容描述： [IC 100K SERIES, LOW LEVEL TRIGGERED D LATCH, COMPLEMENTARY OUTPUT, CDIP24, 0.400 INCH, CERAMIC, DIP-24, FF/Latch]
    分类和应用： 复用器锁存器
    文件页数/大小： 10 页 / 152 K
    品牌： NSC [ National Semiconductor ]
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    Test Circuit  
    DS100294-6  
    Notes:  
    =
    =
    EE  
    V
    , V  
    CC  
    +2V, V  
    −2.5V  
    CCA  
    =
    L1 and L2 equal length 50Ω impedance lines  
    =
    R
    50Ω terminator internal to scope  
    T
    Decoupling 0.1 µF from GND to V and V  
    CC EE  
    All unused outputs are loaded with 50Ω to GND  
    =
    C
    L
    Fixture and stray capacitance ≤ 3 pF  
    Pin numbers shown are for flatpak; for DIP see logic symbol  
    FIGURE 1. AC Test Circuit  
    (Using Quad Cerpak)  
    Switching Waveforms  
    DS100294-7  
    FIGURE 2. Enable Timing  
    www.national.com  
    6

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