纳安解决方案公司
N02M0818L2A
推荐时间限制 - 读周期
(不是所有的包容性测试值)
1.3 - 2.3 V
项
符号
分钟。
读周期时间
地址访问时间
芯片使能到输出有效
输出使能到输出有效
芯片使能为低阻抗输出
输出使能为低阻抗输出
芯片禁用到高阻输出
输出禁止到高阻输出
从地址变更输出保持
t
RC
t
AA
t
CO
t
OE
t
LZ
t
OLZ
t
HZ
t
OHZ
t
OH
100
50
0
0
50
150
150
500
500
500
200
20
10
0
0
10
30
30
马克斯。
分钟。
100
100
100
50
马克斯。
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
1.65 - 2.3 V
单位
推荐时间限制 - 写周期
(不是所有的包容性测试值)
1.3 - 2.3 V
项
符号
分钟。
写周期时间
芯片使能写操作的结束
地址有效到写结束
地址建立时间
把脉冲宽度
写恢复时间
写入输出高阻态
数据写入时间重叠
从时间写数据保持
结束写入低-Z输出
从地址变更输出保持
t
WC
t
CW
t
AW
t
WP
t
AS
t
WR
t
WHZ
t
DW
t
DH
t
OW
t
OH
300
0
50
0
500
400
400
300
0
0
50
40
0
10
0
马克斯。
分钟。
85
50
50
40
0
0
15
马克斯。
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
1.65 - 2.3 V
单位
( DOC # 14-02-036版本C ECN # 01-0887 )
此设备的规格如有变更,恕不另行通知。对于最新的文档,请参见http://www.nanoamp.com 。
4