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JS28F512P30BF 参数 Datasheet PDF下载

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型号: JS28F512P30BF
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内容描述: 美光并行NOR闪存的嵌入式存储器( P30-65nm ) [Micron Parallel NOR Flash Embedded Memory (P30-65nm)]
分类和应用: 闪存存储内存集成电路光电二极管
文件页数/大小: 92 页 / 1225 K
品牌: MICRON [ MICRON TECHNOLOGY ]
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512MB, 1GB,2GB : P30-65nm
概述
概述
Micron的并行NOR闪存是最新一代的闪存devi-
CES 。优点包括更密度在更小的空间,高速接口装置,和支持
端口,用于代码和数据的存储。其特点包括高性能同步爆
阅读模式,快速异步访问时间,低功耗,灵活的安全选项,
三种行业标准封装选择。该产品系列采用米 - 制造
cron的65nm工艺制程。
该NOR闪存装置提供高性能,在一个16位数据总线的低电压。
个别地擦除存储块的大小,以获得最佳的代码和数据的存储。
在初始上电或复位时的返回,设备默认为异步页级
模式读取。配置读取配置寄存器使能同步突发
模式读取。在同步脉冲串模式下,输出数据与用户支持同步
合股时钟信号。等待信号提供了方便CPU到闪存的同步。
除了增强的体系结构和接口,该设备采用了技
术,能够快速的工厂编程和擦除操作。专为低电压
年龄系统,该设备支持与V读操作
CC
在低电压,并
ERASE和V计划行动
PP
在低电压或V
PPH
。缓冲恩
hanced工厂编程( BEFP )提供最快的闪存阵列编程per-
formance与V
PP
在V
PPH
,这增加了工厂的吞吐量。随着V
PP
在低voltag-
ES ,V
CC
和V
PP
可以绑在一起的简单,超低功耗设计。此外
电压的灵活性,专用V
PP
连接提供了完整的数据保护时,
V
PP
V
PPLK
.
一个命令的用户界面系统处理器和所有接口之间的接口
该设备的最终操作。该设备自动执行算法和时序
必要的块擦除和编程英格斯。通过状态寄存器显示ERASE或处
GRAM完成和可能发生的任何错误。
行业标准的命令序列调用编程和擦除自动化。
每次擦除操作将擦除一个块。擦除挂起功能使系统软
洁具暂停擦除周期到另一个块读取或程序数据。程序可持
挂起使系统的软件编程暂停读取其他位置。数据
在增量字(16位)进行编程。
保护寄存器使能,可用于在 - 唯一的设备标识
折痕系统的安全性。个别块锁定功能提供零延迟块
锁定和解锁。该装置包括通过密码访问加强保护;
这一新功能支持写入和/或读取用户定义的块访问保护。在
此外,该设备还提供了全设备的OTP安全功能。
PDF : 09005aef845667b3
p30_65nm_MLC_512Mb - 1gb_2gb.pdf - 版本B 12/13 EN
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