PIC18F45J10系列
24.0
电气特性
绝对最大额定值
(†)
在环境温度bias.............................................................................................................-40°C到+ 100℃的
储存温度.............................................................................................................................. -65 ° C至+ 150°C
电压在任何数字,只有输入MCLR I / O引脚相对于V
SS
.................................................. ......... -0.3V至6.0V
电压的任何组合数字和模拟引脚相对于V
SS
............................................ -0.3V到(V
DD
+ 0.3V)
在V电压
DDCORE
相到V
SS
.................................................. ................................................. - 0.3V至2.75V
在V电压
DD
相到V
SS
........................................................................................................... -0.3V至4.0V
总功耗
(注1 )
...............................................................................................................................1.0W
最大电流输出的V
SS
针...........................................................................................................................300毫安
最大电流为V
DD
针..............................................................................................................................250毫安
最大输出电流击沉任何PORTB和PORTC I / O引脚..................................... ................................... 25毫安
最大输出电流以任何PORTA , PORTD , PORTE和I / O引脚沉没.................................. ......................... 4毫安
最大输出电流源以任何PORTB和PORTC I / O引脚..................................... ............................. 25毫安
最大输出电流源以任何PORTA , PORTD , PORTE和I / O引脚.................................. ................... 4毫安
所有端口沉没的最大电流combined.......................................................................................................200毫安
采购的所有端口最大电流combined..................................................................................................200毫安
注1 :
功耗的计算方法如下:
PDIS = V
DD
X {I
DD
–
∑
I
OH
} +
∑
{(V
DD
– V
OH
) ×1
OH
} +
∑(V
OL
X我
OL
)
†
注意:
条件超过上述“绝对最大额定值”,可能会造成永久性损坏
装置。这只是额定和器件运行在超过或任何其他条件超出上述
在本规范的操作列表显示不暗示。暴露在绝对最大额定值条件
长时间可能会影响器件的可靠性。
©
2009年Microchip的科技公司
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