ML2008 ， ML2009
电气特性
（续）
符号
数字直流
V
IL
V
IH
I
IN
I
IN
I
CC
I
SS
I
CCP
I
SSP
数字输入低电压
数字输入高电压
输入电流，低
输入电流，高
V
CC
电源电流
V
SS
电源电流
V
CC
电源电流， ML2008
掉电模式下
V
SS
电源电流， ML2008
掉电模式下
4
4
4
4
4
4
4
4
V
IH
= GND
V
IH
= V
CC
无输出负载，V
IL
= GND ，
V
IH
= V
CC
, V
IN
= 0
无输出负载，V
IL
= GND ，
V
IH
= V
CC
, V
IN
= 0
无输出负载，V
IL
= GND ，
V
IH
= V
CC
无输出负载，V
IL
= GND ，
V
IH
= V
CC
V
IN
= 0.185V 。改变增益从-24
到+ 24分贝。从测量
WR
升起
缘来当V
OUT
稳定到内
0.05分贝的终值。
增益= + 24分贝。 V
IN
= -3V到+ 3V的一步。
从V测
IN
= -3V时V
OUT
稳定到最终值0.05分贝。
50
50
0
0
0
0
50
2.0
–10
10
4
–4
0.5
–0.1
0.8
V
V
µA
µA
mA
mA
mA
mA
参数
笔记
条件
民
典型值
注3
最大
单位
AC特性
t
SET
V
OUT
建立时间
4
20
µs
t
步
V
OUT
阶跃响应
4
20
µs
t
DS
t
DH
t
AS
t
AH
t
CSS
t
CSH
t
PW
注1 ：
注2 ：
注3 ：
注4 ：
注5 ：
数据建立时间
数据保持时间
A0建立时间
A0保持时间
CS *
建立时间
CS *
保持时间
WR *
脉冲宽度
4
4
4
4
4
4
4
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
绝对最大额定值是界限，集成电路的寿命可能会受到影响。除非另有说明，所有电压都与测量
相对于地面。
0 ° C至+ 70 ° C和-40 ° C至+ 85 ° C的工作温度范围内的设备进行100 ％测试通过，或者通过100 ％测试，取样保证温度范围
相关性与最坏情况下的测试条件。
Typical是标准的参数25 ℃。
参数保证100 ％生产测试。
参数保证。不是100 ％测试参数不在出厂质量水平计算。
4
MICRO-LINEAR [ MICRO LINEAR CORPORATION ]
