ML2281 ， ML2282 ， ML2284 ， ML2288
电气特性
（续）
符号
参数
条件
民
典型值
注3
最大
极限
单位
AC电气特性
f
CLK
t
ACQ
t
C
SNR
时钟频率
采样保持器采集
转换时间
信噪比
ML2281
不包括MUX adddressing时间
V
IN
= 40kHz的， 5V的正弦波。 ˚F
CLK
= 1.333MHz
(f
采样
»
为120kHz ） 。噪音是所有的总和
非基波成分多达1/2
的F
采样
（注11 ）
V
IN
= 40kHz的， 5V的正弦波。 ˚F
CLK
= 1.333MHz
(f
采样
»
为120kHz ） 。 THD是2和，
3 ，4，5次谐波相对于基波
（注11 ）
V
IN
= f
A
+ f
B
. f
A
= 40kHz的， 2.5V的正弦波。
f
B
= 39.8kHz ， 2.5V正弦，女
CLK
= 1.333MHz
(f
采样
»
为120kHz ） 。 IMD是（F
A
+ f
B
),
(f
A
– f
B
), (2f
A
+ f
B
), (2f
A
– f
B
), (f
A
+ 2f
B
),
(f
A
– 2f
B
）相对于基波（注11 ）
（注10 ）
40
130
80
（注4 ）
10
1/2
8
47
1.333
千赫
1/f
CLK
1/f
CLK
dB
THD
总谐波失真
ML2281
–60
dB
IMD
互调失真
ML2281
–60
dB
时钟占空比
t
建立
t
HOLD
t
PD1
,
t
PD0
t
1H
,
t
0H
60
%
ns
ns
CS
下降沿或数据输入（注4 ）
有效期至CLK上升沿
经过有效数据输入
CLK上升沿
CLK的下降沿到输出
数据有效
上升沿
CS
到数据
输出与SARS高阻
（注4 ）
C
L
= 100pF的（注4 & 12 ）
数据的MSB首先
数据LSB优先
C
L
= 10pF的，R
L
= 10K （见高阻抗
测试电路） （注5）
C
L
= 100pF电容，R
L
= 2K （注4 ）
90
50
40
80
5
5
200
110
90
160
ns
ns
ns
ns
pF
pF
C
IN
C
OUT
注1 ：
注2 ：
注3 ：
注4 ：
注5 ：
注6 ：
注7 ：
注8 ：
逻辑输入电容
逻辑输出电容
当输入电压（V
IN
）在任何引脚超过电源轨（V
IN
< GND或V
IN
＆ GT ; V
CC
）电流在该销的绝对值应限于25毫安
或更小。
0℃至70℃和-40 ℃至+ 85 ℃的工作温度范围内的设备100％测试带，或由100％的测试，取样保证温度范围
相关性与最坏情况下的测试条件。
Typical是标准的参数25 ℃。
参数保证100 ％生产测试。
参数保证。不是100 ％测试参数不在出厂质量水平计算。
总非调整误差包括偏移，满度，线性，多路转换器和取样和保持的错误。
不能为ML2282测试。
对于V
IN
–
³
V
IN
+数字输出代码将是0000 0000芯片上集成两个二极管连接到每个模拟输入（见框图），将转发行为准则
模拟输入电压低于地电平的一个二极管压降或一个二极管的压降大于在V
CC
供应量。要注意，在测试过程中低V
CC
水平（ 4.5V ） ，高级别
模拟输入（5V）可引起该输入二极管来进行，特别是在升高的温度下，并导致对接近满量程模拟输入错误。该规范允许
50mV的转发或者二极管偏置。这意味着，只要在模拟V
IN
或V
REF
不超过超过50mV的电源电压时，输出代码将
正确的。因此，实现一种绝对的0V至5V的输入电压范围，需要4.950V的最小电源电压
DC
随温度的变化，初始
宽容和加载。
测量泄漏电流与时钟不进行切换。
注9 ：
注10 ：一40 ％至60 ％的时钟占空比范围内的所有时钟频率下确保正常运行。在该可用的时钟具有这些限制之外的占空比的情况下，该
最小时间的时钟为高或最小时间的时钟为低电平必须至少为300ns 。最长时间的时钟可以是高或低是为60μs 。
注11 ：由于多路转换器的寻址，测试条件为ML2282将是V
IN
= 34kHz ， 5V的正弦波（F
采样
»
102kHz ） ; ML2284 V
IN
= 32kHz时， 5V正弦
(f
采样
»
于95kHz ） ; ML2288 V
IN
= 30kHz的， 5V的正弦波（F
采样
»
89kHz).
注12 ：由于数据， MSB在前，是在逐次逼近循环，附加延迟是建立在使用比较器的输出（见框图） ，以允许
比较器的响应时间。
6
MICRO-LINEAR [ MICRO LINEAR CORPORATION ]
