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2128VE 参数 Datasheet PDF下载

2128VE图片预览
型号: 2128VE
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内容描述: 3.3V在系统可编程SuperFAST⑩高密度PLD [3.3V In-System Programmable SuperFAST⑩ High Density PLD]
分类和应用:
文件页数/大小: 19 页 / 235 K
品牌: LATTICE [ LATTICE SEMICONDUCTOR ]
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特定网络阳离子
可编程逻辑器件2128VE
开关测试条件
输入脉冲电平
输入上升和下降时间
输入定时基准水平
输出时序参考电平
输出负载
GND到3.0V
1.5ns 10 %至90%
1.5V
1.5V
见图2
表2 - 0003 / 2128VE
图2.测试负载
+ 3.3V
R1
设备
产量
R2
CL
*
TEST
三态水平从稳态有效电平测量0.5V 。
输出负载条件下(见图2)
测试条件
A
B
高电平有效
低电平有效
高电平到Z
at
V
OH
-0.5V
低电平到Z
at
V
OL
+0.5V
R1
316Ω
R2
348Ω
348Ω
348Ω
348Ω
348Ω
CL
35pF
35pF
35pF
5pF
5pF
*
CL包括测试夹具和探头电容。
0213A/2128VE
316Ω
316Ω
C
表2-0004 / 2128VE
DC电气特性
在推荐工作条件
符号
参数
输出低电压
输出高电压
输入或I / O低漏电流
输入或I / O的高漏电
BSCAN
输入低漏电流
I / O主动上拉电流
输出短路电流
工作电源电流
I
OL
= 8毫安
I
OH
= -4毫安
0V
V
IN
V
IL
( MAX 。 )
(V
CC
- 0.2)V
V
IN
V
CC
V
V
IN
5.25V
CC
0V
V
IN
V
IL
0V
V
IN
V
IL
V
CC
= 3.3V, V
OUT
= 0.5V
V
IL
= 0.0V, V
IH
= 3.0V
f
时钟
= 1兆赫
条件
分钟。
2.4
典型值。
195
3
MAX 。单位
0.4
-10
10
10
-150
-150
-100
V
V
µA
µA
µA
µA
µA
mA
mA
V
OL
V
OH
I
IL
I
IH
I
IL - ISP
I
IL - PU
I
OS
1
I
CC
2, 4
表2-0007 / 2128VE
1.一个输出的时间为一秒的最大持续时间。 V
OUT
= 0.5V被选择,以避免测试
问题由测试地面下降。特征值,未经100 %测试。
2.使用8个16位计数器测量。
3.典型值是在V
CC
= 3.3V和T
A
= 25°C.
4.我最大
CC
广泛地使用特定的设备配置和操作频率而变化。请参阅功耗
莱迪思半导体公司数据手册的这个数据表和热管理部分或CD - ROM来第
估计我最大
CC
.
4