欢迎访问ic37.com |
会员登录 免费注册
发布采购

1032EA 参数 Datasheet PDF下载

1032EA图片预览
型号: 1032EA
PDF下载: 下载PDF文件 查看货源
内容描述: 在系统可编程高密度PLD [In-System Programmable High Density PLD]
分类和应用:
文件页数/大小: 16 页 / 199 K
品牌: LATTICE [ LATTICE SEMICONDUCTOR ]
 浏览型号1032EA的Datasheet PDF文件第1页浏览型号1032EA的Datasheet PDF文件第2页浏览型号1032EA的Datasheet PDF文件第4页浏览型号1032EA的Datasheet PDF文件第5页浏览型号1032EA的Datasheet PDF文件第6页浏览型号1032EA的Datasheet PDF文件第7页浏览型号1032EA的Datasheet PDF文件第8页浏览型号1032EA的Datasheet PDF文件第9页  
特定网络阳离子
可编程逻辑器件1032EA
边界扫描
图2.边界扫描波形和时序规范
TMS
TDI
T
BTSU
T
BTCH
TCK
T
BTCL
T
BTH
T
BTCP
T
BTVO
TDO
T
BTCPSU
数据是
抓获
有效数据
T
BTCO
有效数据
T
BTOZ
T
BTCPH
数据捕获
T
BTUOV
数据是
赶出
T
BTUCO
有效数据
T
BTUOZ
有效数据
符号
t
BTCP
t
BTCH
tbtcl
tbtsu
tbth
TRF
tbtco
tbtoz
tbtvo
tbtcpsu
tbtcph
tbtuco
tbtuoz
tbtuov
参数
TCK [ BSCAN测试]时钟脉冲宽度
TCK [ BSCAN测试]脉冲宽度高
TCK [ BSCAN测试]脉冲宽度低
TCK [ BSCAN测试]建立时间
TCK [ BSCAN测试]保持时间
TCK [ BSCAN测试]上升和下降时间
TAP控制器时钟的下降沿为有效输出
TAP控制器时钟的下降沿将数据输出禁止
TAP控制器时钟的下降沿到数据输出使能
BSCAN测试捕获寄存器建立时间
BSCAN测试捕获寄存器保持时间
BSCAN测试更新寄存器,时钟,以有效输出下降沿
BSCAN测试更新寄存器,时钟输出禁用下降沿
BSCAN测试更新寄存器,时钟的下降沿输出使能
100
50
50
20
25
50
40
25
最大
25
25
25
50
50
50
单位
ns
ns
ns
ns
ns
毫伏/ NS
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
3