特定网络阳离子
可编程逻辑器件八百八十三分之一千零二十四
开关测试条件
输入脉冲电平
输入上升和下降时间
输入定时基准水平
输出时序参考电平
输出负载
GND到3.0V
≤
3ns的10 ％至90％
1.5V
1.5V
见图2
图2.测试负载
+ 5V
R1
设备
产量
R2
CL
*
TEST
点
三态水平的稳态测量0.5V
活跃的水平。
表2 - 0003
输出负载条件下（见图2）
测试条件
A
B
高电平有效
低电平有效
C
高电平到Z
at
V
OH
- 0.5V
低电平到Z
at
V
OL
+ 0.5V
表格2- 0004A
R1
470Ω
R2
390Ω
390Ω
390Ω
390Ω
390Ω
CL
35pF
35pF
35pF
5pF
5pF
*
CL包括测试夹具和探头电容。
∞
470Ω
∞
470Ω
DC电气特性
在推荐工作条件
符号
参数
输出低电压
输出高电压
输入或I / O低漏电流
输入或I / O的高漏电
ISP输入低漏电流
I / O主动上拉电流
输出短路电流
工作电源电流
I
OL
= 8毫安
I
OH
= -4毫安
0V
≤
V
IN
≤
V
IL
（ MAX 。 ）
3.5V
≤
V
IN
≤
V
CC
0V
≤
V
IN
≤
V
IL
（ MAX 。 ）
0V
≤
V
IN
≤
V
IL
V
CC
= 5V, V
OUT
= 0.5V
V
IL
= 0.5V, V
IH
= 3.0V
f
切换
= 1兆赫
1.一个输出的时间为一秒的最大持续时间。 V
OUT
= 0.5V选择，以避免地面测试仪的测试问题
退化。特征值，未经100 ％测试。
2.采用6个16位计数器测量。
3.典型值是在V
CC
= 5V和T
A
= 25
o
C.
4.我最大
CC
广泛地使用特定的设备配置和操作频率而变化。请参阅功耗节
这个数据表和热管理的莱迪思半导体数据手册的部分或CD - ROM和灰估计最大
I
CC
.
0007A -24密耳
条件
分钟。
–
2.4
–
–
–
–
–
–
典型值。
3
–
–
–
–
–
–
–
135
马克斯。
0.4
–
-10
10
-150
-150
-200
215
单位
V
V
µA
µA
µA
µA
mA
mA
V
OL
V
OH
I
IL
I
IH
I
IL - ISP
I
IL - PU
I
OS
1
I
CC
2,4
4
LATTICE [ LATTICE SEMICONDUCTOR ]
