TaNFilm
®
芯片载体
电阻网络
数据示意图
3
2
1
20
19
3
2
1
20
19
R3
R2
R1
R19
R18
R4
R2
R10
4
5
6
7
8
R7
R9
R10
R11
R12
R5
18
17
16
4
5
R3
R9
R4
R5
R1
R8
18
17
16
15
14
R6
R7
R17
6
7
8
R16
R6
R15
15
14
R13
R14
R8
9
10
11
12
13
9
10
11
12
13
7800/7900
3
2
1
20
19
3
7807/7907
2
1
20
19
R2
R3
R1
R10
R9
R10
4
5
R3
18
17
16
R8
4
R2
R9
18
17
R1
5
6
R4
6
7
R4
16
15
R5
R7
15
R5
R6
R7
7
8
8
14
14
R6
R8
9
10
11
12
13
9
10
11
12
13
7808/7908
7809/7909
环境数据
测试每MIL -PRF- 914
热冲击和功率调节
低温操作
短时过载
抗粘结曝光
稳态湿度
耐湿性
震
振动
生活
高温曝光
低温储存
MIL -PRF- 914限量（ ΔR ％ ）
M
0.7
0.5
0.5
0.25
0.5
0.5
0.25
0.25
2.0
1.0
0.5
K
0.7
0.25
0.25
0.25
0.5
0.5
0.25
0.25
0.5
0.5
0.25
H
0.5
0.1
0.1
0.25
0.5
0.4
0.25
0.25
0.5
0.2
0.1
V
0.25
0.1
0.1
0.25
0.2
0.25
0.25
0.25
0.5
0.1
0.1
TaNFilm®测试数据（ ΔR ％ ）
最大
0.1
0.05
0.05
0.1
0.1
0.1
0.1
0.1
0.1
0.1
0.05
典型
0.02
0.02
0.02
0.02
0.03
0.03
0.03
0.03
0.03
0.03
0.01
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CCN系列发行2009年4月第3页4
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