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    HS1-1840RH/SAMPLE 参数 Datasheet PDF下载

    HS1-1840RH/SAMPLE图片预览
    型号： HS1-1840RH/SAMPLE
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    内容描述： 抗辐射16通道CMOS模拟抗辐射16通道CMOS模拟 [Rad-Hard 16 Channel CMOS Analog Rad-Hard 16 Channel CMOS Analog]
    分类和应用：
    文件页数/大小： 13 页 / 194 K
    品牌： HARRIS [ HARRIS CORPORATION ]
     浏览型号HS1-1840RH/SAMPLE的Datasheet PDF文件第4页浏览型号HS1-1840RH/SAMPLE的Datasheet PDF文件第5页浏览型号HS1-1840RH/SAMPLE的Datasheet PDF文件第6页浏览型号HS1-1840RH/SAMPLE的Datasheet PDF文件第7页浏览型号HS1-1840RH/SAMPLE的Datasheet PDF文件第9页浏览型号HS1-1840RH/SAMPLE的Datasheet PDF文件第10页浏览型号HS1-1840RH/SAMPLE的Datasheet PDF文件第11页浏览型号HS1-1840RH/SAMPLE的Datasheet PDF文件第12页  
    HS-1840RH
    老化/寿命测试电路
    R
    + VS
    R
    1
    2
    3
    4
    5
    6
    7
    8
    9
    10
    11
    12
    13
    14
    28
    27
    26
    25
    24
    23
    22
    21
    20
    19
    18
    17
    16
    15
    R
    -Vs
    + VS
    R
    1
    2
    3
    4
    5
    6
    7
    8
    9
    10
    11
    12
    13
    14
    28
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    26
    25
    24
    23
    22
    21
    20
    19
    18
    17
    16
    15
    R
    -Vs
    R
    F5
    F1
    F2
    F3
    GND
    F4
    GND
    VR
    R
    动态BURN -IN和寿命测试电路
    注意事项：
    VS + = + 15.5V
    ±0.5V,
    VS- = -15.5V
    ±0.5V
    R = 1kΩ的
    ±5%
    C1 = C2 = 0.01μF
    ±10%,
    每1每个插槽，最低
    D1 = D2 = 1N4002 ，每1每块电路板，最小
    输入信号：方波，占空比为50％ ， 0V至15V的峰
    ±10%
    F1 = 100kHz的; F2 = F1 / 2 ; F3 = F1 / 4 ; F4 = F1 / 8 ; F5 = F1 / 16
    注意事项：
    1.上述测试电路被用于所有包类型。
    2.动态测试电路被用于所有的寿命试验。
    注意事项：
    静态BURN- IN测试电路
    R = 1kΩ的
    ±5%,
    1
    /
    4
    W
    C1 = C2 = 0.01μF最低，每1每个插槽，最低
    VS + = 15.5V
    ±0.5V,
    VS- = -15.5V
    ±0.5V,
    VR = 15.5
    ±0.5V
    辐照电路
    HS- 1840RH 28引脚DIP
    +15V
    NC
    NC
    +1V
    1
    2
    3
    4
    5
    6
    7
    8
    9
    10
    11
    12
    13
    14
    28
    27
    26
    25
    24
    23
    22
    21
    20
    19
    18
    17
    16
    15
    -15V
    1KΩ
    +5V
    注：所有辐射测试在28引脚CERDIP封装进行。
    规格编号
    8
    518022

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