C2955 参数 Datasheet PDF下载

型号：	C2955
PDF下载：	下载PDF文件查看货源
内容描述：	红外IC内部检查制度 [INFRARED IC INTERNAL INSPECTION SYSTEM]
分类和应用：
文件页数/大小：	2 页 / 70 K
品牌：	HAMAMATSU [ HAMAMATSU CORPORATION ]

试验数据表

红外IC内部的

检测系统

C2955

从芯片的背面时，可以通过在硅基见

基片与芯片的图案通过红外光的装置。

新开发的红外CCD摄像机是用来检查模式

图像比以往任何时候都更清楚，更容易。

在C2955是IC内部检查制度断路器中

porating红外显微镜和红外CCD

摄像头。采用了新开发的红外CCD的

摄像头实现了高灵敏度约为10

次常规系统的（在比较了

浜松），在波长为1.0微米，使得它

能够得到锐利，清晰的图像具有高

分辨率。使用其发射的红外光

通过在硅衬底能够观察

在IC中，引线键合互连线

状态，并在晶片接合的条件下，随着

扩散区的条件下，而不会损坏部

下观察。观测可以从完成

背面侧，当样品的制备是通过刮

离上的表面相反侧的模制

硅衬底。由于金属布线是

从未接触过在检查过程中，精确的

测试可以进行最佳的条件下，

使得能够检查的情况

扩散区，所述多层互连线，所述

铝硅结节引线键合界面和芯片键合

详细信息。

最适合倒装芯片

评价

下部分无损伤

意见

高灵敏度，高

决议

内置的对比度

增强功能

阴影校正功能

专业IC领域供求交易平台:提供全面的IC Datasheet资料和资讯，Datasheet 1000万数据，IC品牌1000多家。

网站导航 Datasheet资料库电子术语电子百科

服务中心 常见问题委托交易会员服务

关于我们 公司简介联系我们免责申明

产品索引：A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9