CY7C372i
最大额定值
（以上其中有用寿命可能受到损害。对于用户指南 -
线，没有测试。 ）
存储温度................................. -65 ° C至+ 150°C
环境温度与
电源应用............................................. -55 ° C至+ 125°C
电源电压对地电位............... -0.5V至+ 7.0V
直流电压应用到输出的
在高阻状态............................................. .. -0.5V至+ 7.0V
直流输入电压-0.5V ............................................至+ 7.0V
DC编程电压............................................... ...... 12.5V
输出电流为输出........................................ 16毫安
静电放电电压........................................... > 2001V
（每MIL -STD -883方法3015 ）
闩锁电流.............................................. ....... > 200毫安
工作范围
范围
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产业
军事
[2]
环境
温度
0 ° C至+ 70°C
−40°C
至+ 85°C
-55 ° C至+ 125°C
V
CC
V
CCINT
V
CCIO
5V
±
0.25V 5V
±
0.25V或
3.3V
±
0.3V
5V
±
0.5V
5V
±
0.5V
5V
±
0.5V
3.3V
±
0.3V
电气特性
在整个工作范围
[3, 4]
参数
V
OH
V
OHZ
V
OL
V
IH
V
IL
I
IX
I
OZ
描述
输出高电压
与输出高电压
输出禁用
[8]
输出低电压
输入高电压
输入低电压
输入负载电流
输出漏电流
测试条件
V
CC
=最小值。我
OH
= -3.2毫安
V
CC
=最大。我
OH
= 0
µA
（ Com'l /工业）
[5]
I
OH
= -2.0毫安（ MIL）
（ Com'l /工业）
[5, 6]
I
OH
= –50
µA
（ Com'l /工业）
[5, 6]
V
CC
=最小值。我
OL
= 16 MA（ Com'l /工业）
[5]
I
OL
= 12 MA（ MIL）
保证输入逻辑高电压对所有
输入
[7]
保证输入逻辑低电压所有
输入
[7]
V
I
=内部GND ，V
I
= V
CC
V
CC
=最大，V
O
= GND或V
O
= V
CC
，输出
残
V
CC
=最大，V
O
= 3.3V ，输出禁用
[6]
I
OS
I
CC
输出短路
短路电流
[8, 9]
电源电流
[10]
V
CC
=最大，V
OUT
= 0.5V
V
CC
=最大，我
OUT
= 0 mA时，
F = 1MHz时， V
IN
= GND ，V
CC
V
CC
=最小，V
IL
= 0.8V
V
CC
=最小，V
IH
= 2.0V
V
CC
=最大。
V
CC
=最大。
Com'l /工业。
Com'l的“L” -66
军事
I
BHL
I
BHH
I
BHLO
I
BHHO
输入总线保持低电平
维持电流
输入总线高举
维持电流
输入总线保持低电平
过载电流
输入总线高举
过载电流
+75
–75
+500
−500
2.0
–0.5
–10
–50
0
–30
75
45
75
–70
分钟。
2.4
2.4
4.0
3.6
0.5
0.5
7.0
0.8
+10
+50
–125
–160
125
75
200
典型值。
马克斯。
单位
V
V
V
V
V
V
V
V
µA
µA
µA
mA
mA
mA
mA
µA
µA
µA
µA
注意事项：
2. T
A
是外壳温度的「即时」 。
3.请参见本规范A组分组测试信息的最后一页。
4.如果V
CCIO
没有被指定，该设备可以在3.3V或5V的I / O模式来操作; V
CC
= V
CCINT
.
5.对于SDO ：我
OH
= -2毫安，我
OL
= 2毫安。
6.当I / O处于三态时，总线保持电路能弱上拉的I / O ，最高4.0V ，如果没有漏电流是允许的。该电压被显著降低
通过一个小的漏电流。请注意，所有的I / O都在ISR编程三态。请参考应用笔记“了解总线保持”额外
信息。
7.这是相对于设备接地的绝对值。由于系统或测试噪音的过冲都包括在内。
8.不超过一个输出应在同一时间进行测试。短路的持续时间应不超过1秒。 V
OUT
= 0.5V已被选定为避免测试
造成地面测试退化问题。
9.初步测试后任何设计或工艺变化，可能会影响这些参数。
10.测得的16位计数器编程到每一个逻辑块。
文件编号： 38-03033修订版**
第13 4
CYPRESS [ CYPRESS SEMICONDUCTOR ]
