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7C1359A-133 参数 Datasheet PDF下载

7C1359A-133图片预览
型号: 7C1359A-133
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内容描述: 256K ×18的同步流水线高速缓存RAM标签 [256K x 18 Synchronous-Pipelined Cache Tag RAM]
分类和应用:
文件页数/大小: 24 页 / 234 K
品牌: CYPRESS [ CYPRESS SEMICONDUCTOR ]
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CY7C1359A/GVT71256T18
IEEE 1149.1串行边界扫描( JTAG )
概观
该器件集成了串行边界扫描端口的访问
(TAP) 。该端口被设计相一致的方式来操作
IEEE标准1149.1-1990 (通常被称为
JTAG) ,但是不执行所需的所有功能
IEEE 1149.1合规性。某些功能已经作案
田间或消除,因为其执行额外地
延迟器件的临界速度的路径。不过,
该设备支持标准TAP控制器架构
( TAP控制器状态机的控制TAP的
操作),并且可以预期的方式发挥功能即
不与装置的符合IEEE斯坦操作发生冲突
准1149.1标准的水龙头。 TAP在工作时使用
LVTTL / LVCMOS逻辑电平信号。
禁用JTAG特性
因此能够使用该设备在不使用JTAG特性。
要禁用TAP控制器不正常的干扰
该装置的操作,TCK应连接到低电平(Ⅴ
SS
)以
防止计时设备。 TDI和TMS在内部上拉
并可能悬空。他们可以轮流拉
高达V
CC
通过一个电阻。 TDO悬空。
上电时器件会在复位状态,
不会干扰该装置的操作。
执行TAP复位
在TAP电路不具有复位引脚( TRST ,这是
在IEEE 1149.1规格可选)。一个复位可
通过强制TMS高电平(V进行TAP控制器
CC
)
达5个TCK上升沿和预加载指令稳压
存器的IDCODE指令。这种类型的复位不
影响系统逻辑的操作。复位会影响测试
逻辑而已。
上电时, TAP会在内部复位,以确保TDO是
在高阻状态。
测试访问端口( TAP )寄存器
概观
通过各种技术咨询寄存器被选择(一次一个)
一和零输入到TMS引脚为TCK序列
被选通。每个TAP的寄存器的串行移位寄存器
在TCK的上升沿捕获串行输入数据和
推串行数据在TCK的后续下降沿。当
一个寄存器被选择,它被连接在TDI和间
TDO引脚。
指令寄存器
指令寄存器认为是execut-的说明
由TAP控制器编当它被移动到运行测试/空闲
或各种数据的寄存器状态。该指令有三个
位长。该寄存器可以当它被放置之间被加载
TDI和TDO引脚。的指令的并行输出
寄存器都与IDCODE自动预载指令
灰上电时或每当所述控制器被放置在
测试逻辑复位状态。当TAP控制器处于的Cap-
TURE - IR状态,串行指令的两个最显著位
置寄存器被装入一个二进制的“ 01”模式,以允许
故障的板级串行测试数据路径分离。
旁路寄存器
旁路寄存器是一个单比特寄存器,它可以被放置
之间TDI和TDO 。它允许串行测试数据传递
通过TAP设备向另一台设备在扫描链
以最小的延迟。旁路寄存器被设置为低电平( V
SS
)
当执行BYPASS指令。
边界扫描寄存器
边界扫描寄存器连接到所有的输入和
双向I / O口(不包括TAP引脚)的设备上。
这也包括了许多NC引脚被保留用于
未来的需求。总共有70位的X36设备都和
51位的X18设备。边界扫描寄存器中,根据
TAP控制器的控制,装有的内容
设备I / O环时,控制器处于Capture-DR状态和
然后放置在CON组之间的TDI和TDO引脚
控制器被转移到Shift-DR状态。在EXTEST , SAMPLE /
PRELOAD和SAMPLE -Z的指令可用于CAP-
TURE的I / O环的内容。
边界扫描顺序表描述的顺序
位的连接。第一列定义了位的位置
化的边界扫描寄存器。该寄存器的最高位为
连接到TDI, LSB连接到TDO 。第二个
列是信号名称,第三列是凸点
号。第三列是TQFP引脚数和
第四列是BGA的焊球数。
测试访问端口( TAP )
TCK - 测试时钟( INPUT)
时钟的所有TAP事件。所有的输入被捕获的上升
TCK的边缘,所有输出的下降沿传播
的TCK 。
TMS - 测试模式选择( INPUT)
TMS输入进行采样,在TCK的上升沿。这是
命令输入的TAP控制器状态机。这是
允许离开这个引脚悬空,如果不使用水龙头。
该引脚被拉高内部,从而产生逻辑高电平。
TDI - 测试数据输入( INPUT)
TDI输入进行采样,在TCK的上升沿。这是
串行寄存器置于TDI和TDO之间的输入侧。
置于TDI和TDO之间的寄存器由以下因素决定
TAP控制器状态机和指令的状态
这是在TAP指令寄存器加载当前化(重新
FER到
图1中,
TAP控制器状态图) 。这是允许的
离开这个引脚悬空,如果它不是在一个应用程序中使用。
该引脚被拉高内部,从而产生逻辑高电平。
TDI是连接到任何稳压的最显著位(MSB)
存器。 (见
图2. )
TDO - 测试数据输出( OUTPUT)
在TDO输出引脚用于串行数据时钟输出从
寄存器。视的状态下被激活,输出
TAP状态机(参见
图1中,
TAP控制器状态
图)。输出的变化响应于下降沿
TCK 。这是串行寄存器放置在输出侧BE-
吐温TDI和TDO 。 TDO连接到所述至少显著
位( LSB )的任何寄存器。 (见
图2. )
文件编号: 38-05120牧师**
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