CS2100-CP
AC电气特性
测试条件（除非另有说明） ： VD = 3.1 V至3.5 V ;牛逼
A
= -10 ° C至+ 70 ° C（商业级） ;
C
L
= 15 pF的。
参数
晶振频率
基本模式XTAL
参考时钟输入频率
符号
f
XTAL
条件
RefClkDiv [1 ：0]的
= 10
RefClkDiv [1 ：0]的
= 01
RefClkDiv [1 ：0]的
= 00
RefClkDiv [1 ：0]的
= 10
RefClkDiv [1 ：0]的
= 01
RefClkDiv [1 ：0]的
= 00
民
8
16
32
8
16
32
45
8
50赫兹
典型值
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
-
50
1.7
1.7
70
50
175
100
1
1
-
-
最大
18.75
37.5
50
18.75
37.5
75
55
18.75
30
-
-
-
80
75
55
3.0
3.0
-
-
-
200
3
3
±0.5
±112
单位
兆赫
兆赫
兆赫
兆赫
兆赫
兆赫
%
兆赫
兆赫
UI
ns
ms
千赫
兆赫
%
ns
ns
ps的均方根
ps的均方根
ps的均方根
UI
ms
ms
PPM
PPM
f
REF_CLK
参考时钟输入占空比
内部系统时钟频率
时钟输入频率
时钟输入脉冲宽度（注
4)
时钟跳过超时
时钟跳过输入频率
PLL时钟输出频率
PLL时钟输出占空比
时钟输出上升时间
时钟输出下降时间
周期抖动
基带抖动（ 100赫兹到40千赫）
宽带抖动（ 100赫兹角）
PLL锁定时间 - CLK_IN （注
10)
PLL锁定时间 - REF_CLK
输出频率合成分辨率（注
11)
D
REF_CLK
f
SYS_CLK
f
CLK_IN
pw
CLK_IN
t
CS
f
CLK_SKIP
f
CLK_OUT
t
OD
t
OR
t
OF
t
JIT
测量VD / 2
20 ％至80％ VD的
80％至VD的20％的
（注
7)
（注
7, 8)
（注
7, 9)
t
LC
t
LR
f
ERR
f
CLK_IN
＆ LT ; 200千赫
f
CLK_IN
> 200千赫
f
REF_CLK
= 8 〜75 MHz的
高分辨率
乘高
f
CLK_IN
＆ LT ; ˚F
SYS_CLK
/96
f
CLK_IN
＆ GT ; ˚F
SYS_CLK
/96
（注
5, 6)
（注
6)
2
10
20
50赫兹
6
45
-
-
-
-
-
-
-
-
0
0
注意事项：
4. 1的UI（单位间隔）对应于吨
SYS_CLK
或的1 / f
SYS_CLK
.
5. t
CS
表示从CLK_IN的除去由CLK_IN必须重新施加以保证时间
PLL_OUT继续，而PLL重新获取锁。这个超时是基于内部VCO frequen-
立方码，以最小的超时处出现最大的VCO频率。较低的VCO频率会
造成较大的t值
CS
.
6.只有在时钟跳跃模式有效;看
“ CLK_IN跳跃模式”第14页
了解更多信息。
7.
f
CLK_OUT
= 24.576兆赫;样本量= 10000点;
AuxOutSrc [1 ：0]的
= 11.
8.根据AES- 12id -2006 3.4.2节。测量是时间间隔误差与第三采取
订购100赫兹到40千赫兹的带通滤波器。
9.根据AES- 12id -2006 3.4.1节。测量是时间间隔误差与第三采取
订购100 Hz的高通滤波器。
10. 1的UI（单位间隔）对应于吨
CLK_IN
或的1 / f
CLK_IN
.
PLL时钟输出的11.频率精度成正比的频率精度
参考时钟。
DS840F1
7
CIRRUS [ CIRRUS LOGIC ]
