电气规格
T
A
= T
民
给T
最大
， AV
EE
= –5.2 V, V
RB
= –1.00 V, V
RM
= –0.5 V, V
RT
= 0.00 V, ƒ
CLK
= 1000 MSPS，占空比= 50％时，除非另有规定。
参数
时序特性
时钟到数据就绪延迟（T
dr
)
数据银行A
数据B银行
时钟到输出数据（T
od
)
数据银行A
数据B银行
输出数据到数据就绪（T
ODR
)
数据银行A
数据B银行
输出数据倾斜（T
OSK
)
孔径抖动
采集时间
TEST
条件
TEST
水平
民
SPT7610
典型值
最大
单位
25 ℃的情况下，
25 ℃的情况下，
25 ℃的情况下，
25 ℃的情况下，
-40到85°C的情况下
-40到85°C的情况下
-40到85°C的情况下
V
V
V
V
IV
IV
IV
V
V
1.68
1.73
2.14
2.00
1.54
1.73
–150
2
250
150
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ps
ps
ps
动态性能
无杂散动态范围（ SFDR ）
ƒ
IN
= 250兆赫
ƒ
IN
= 400兆赫
信号与噪声和失真比（SINAD ）
ƒ
IN
= 250兆赫
ƒ
IN
= 400兆赫
信噪比（SNR）的
ƒ
IN
= 250兆赫
ƒ
IN
= 400兆赫
总谐波失真（ THD ）
ƒ
IN
= 250兆赫
ƒ
IN
= 400兆赫
V
V
VI
VI
VI
VI
VI
VI
31
28
33
32
45
34
34
32
36
36
–40
–34
–37
–30
dB
dB
dB
dB
dB
dB
dB
dB
测试级别码
所有的电气特性都受到了
以下条件：
具有最小/最大规格的所有参数
有保证。测试级别列indi-
凯茨特定设备的测试实际上per-
生产和质量保证方面形成过程
ANCE检查。数据中的任何空白部分
列指示该规格不
在指定的条件下测试。
除非另有说明，所有试验是脉冲
试验;因此，T
J
= T
C
= T
A
.
水平
I
II
III
IV
V
VI
测试程序
100％的产品在特定温度下进行测试。
在T 100 ％生产测试
A
= 25 ℃，样品在测试
特定网络版温度。
质量保证样品只在指定的温度下进行测试。
参数保证（但不是测试）在设计和characteri-
矩阵特殊积的数据。
参数仅供参考的典型值。
在T 100 ％生产测试
A
= 25 ℃。参数保证
在规定的温度范围内。
SPT7610
3
1/21/02
CADEKA [ CADEKA MICROCIRCUITS LLC. ]
