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BH62UV4000STIG55 参数 Datasheet PDF下载

BH62UV4000STIG55图片预览
型号: BH62UV4000STIG55
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内容描述: 超低功耗/高速CMOS SRAM 512K ×8位 [Ultra Low Power/High Speed CMOS SRAM 512K X 8 bit]
分类和应用: 静态存储器
文件页数/大小: 12 页 / 397 K
品牌: BSI [ BRILLIANCE SEMICONDUCTOR ]
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BH62UV4000
n
DC电气特性(T
A
= -40°C至+ 85°C )
参数
名字
V
CC
V
IL
V
IH
I
IL
I
LO
V
OL
V
OH
I
CC
I
CC1
I
CCSB
I
CCSB1
参数
电源
输入低电压
输入高电压
输入漏电流
输出漏电流
输出低电压
输出高电压
工作电源
当前
工作电源
当前
待机电流
TTL
待机电流
CMOS
V
IN
= 0V至V
CC
,
CE = V
IH
V
I / O
= 0V至V
CC
,
CE = V
IH
或OE = V
IH
V
CC
=最大,我
OL
= 0.1毫安
V
CC
=最大,我
OL
= 2.0毫安
V
CC
=最小,我
OH
= -0.1mA
V
CC
=最小,我
OH
= -1.0mA
CE = V
IL
,
I
DQ
= 0毫安中,f = F
MAX(4)
CE = V
IL
,
I
DQ
= 0毫安, F = 1MHz的
CE = V
IH
,
I
DQ
= 0毫安
CE = V
CC
-0.2V,
V
IN
≧V
CC
-0.2V或V
IN
≦0.2V
V
CC
=1.8V
V
CC
=3.6V
V
CC
=1.8V
V
CC
=3.6V
V
CC
=1.8V
V
CC
=3.6V
V
CC
=1.8V
V
CC
=3.6V
V
CC
=1.8V
V
CC
=3.6V
V
CC
=1.8V
V
CC
=3.6V
V
CC
=1.8V
V
CC
=3.6V
V
CC
=1.8V
V
CC
=3.6V
O
O
测试条件
分钟。
1.65
-0.3
(2)
1.4
2.2
--
--
--
V
CC
-0.2
2.4
--
--
--
--
典型值。
(1)
--
--
--
--
--
--
--
--
1.0
1.5
--
2.0
2.0
(5)
马克斯。
3.6
0.4
0.8
V
CC
+0.3
(3)
1
1
0.2
0.4
--
8
10
1.5
2.0
0.5
1.0
10
10
单位
V
V
V
uA
uA
V
V
mA
mA
mA
uA
1.典型的特点是在T
A
=25
O
C和不是100 %测试。
2.冲: -1.0V的情况下,脉冲宽度小于20纳秒。
3.过冲: V
CC
+ 1.0V的情况下,脉冲的宽度小于20纳秒。
4. F
最大
=1/t
RC 。
5. V
CC
=3.0V
n
数据保持特性(T
A
= -40°C至+ 85°C )
符号
V
DR
I
CCDR
t
CDR
t
R
参数
V
CC
数据保留
数据保持电流
芯片取消到数据
保留时间
手术恢复时间
O
O
测试条件
CE = V
CC
-0.2V,
V
IN
≧V
CC
-0.2V或V
IN
≦0.2V
CE = V
CC
-0.2V,
V
IN
≧V
CC
-0.2V或V
IN
≦0.2V
V
CC
=1.2V
分钟。
1.0
--
0
典型值。
(1)
--
1.0
--
--
马克斯。
--
5.0
--
--
单位
V
uA
ns
ns
见保留波形
t
RC (2)
1.典型的特点是在T
A
=25
O
C和不是100 %测试。
2. t
RC
=读周期时间。
n
低V
CC
数据保存波形图( 1 ) ( CE控制)
数据保持方式
V
CC
V
IH
V
CC
V
DR
≧1.0V
V
CC
t
CDR
CE = V
CC
- 0.2V
t
R
V
IH
CE
R0201-BH62UV4000
3
修订版1.2
八月
2006