以上为250kHz ，该行为是相似的采样的
放大器。该信号响应于输入大于250kHz的
性能曲线显示了这种行为的图形;在输入
频率高于250kHz的装置产生一个输出
降低幅度的频率信号分量的
以下为250kHz 。这是取样的混叠效应
大于2倍的信号频率较少的频率（在
奈奎斯特频率）。注意，在载波频率和其
谐波，频率和混叠的振幅
去到零。
隔离模式电压引起的误差
IMV可以在输出端引起的误差由该地块所示
IMV与频率。但是应当指出，如果IMV频率
超出为250kHz ，输出也将显示杂散输出
（混叠） ，其方式类似于用于V
IN
>250kHz和
放大器响应将是相同的，在“信号示
应对输入大于250kHz的“典型表现
曲线。出现这种情况是因为IMV引起的误差表现得像输入 -
提到的错误信号。以预测的总误差，分割隔离
电压在显示“ IMR与频率”的典型IMR
性能曲线，并计算所述放大器响应于该
从在“信号给出的数据输入端的误差信号
应对输入大于250kHz的“典型表现
曲线。例如，然后，如果一个800kHz的1000Vrms的IMR是本，
共[（ -60dB ）+（ -30dB ） ]
x
（ 1000V ） =在32mV误差信号
200kHz的外加1V， 800kHz的误差信号将存在于
输出。
高IMV的dV / dt故障
作为IMV频率的增加和的dV / dt超过
1000V / μs的，读出放大器可能会开始误触发，而
输出会显示虚假错误。共模
当前正在发送跨越障碍的高转换率
读出放大器的错误触发的原因。
降低低于电源电压
±15V
五月
减少的dV / dt为500V / μs的典型表现。
隔离栅
高压测试
的Burr-Brown公司已采取了局部放电试验
标准符合德国VDE0884光耦
后将其标准。该方法需要测量
微小的电流脉冲（ <5pC ），而应用2400Vrms ，
在每一个ISO124隔离60Hz的高电压应力
屏障。无局部放电可以启动传递
此测试。这个标准确认的瞬态过电压
(1.6
x
1500VRMS ）的保护而不会损坏ISO124 。
的LifeTest结果验证下continu-没有失败
OU的额定电压和最高温度。
这种新的测试方法代表了“先进设备，艺术”为
非破坏性的高电压的可靠性测试。它是基于
的非均匀场中存在的异构作用
屏障的降解过程中的介电材料。如果是
空隙的非均匀性，电场应力开始电离
缩小整个高电压之前的空白区域
屏障。充电的过程中和之后的瞬态传导
电离可以在外部被检测为一个突发的0.01〜
为0.1μs电流脉冲的重复在每个AC电压的周期。
最小的交流障碍电压启动部分显示
电荷被定义为“启始电压。 ”减小
阻挡层电压到一个较低的电平之前的部分需要
放电停止，并且被定义为“熄灭电压”。
我们有特点和开发包绝缘
过程产生的初始电压超过2400Vrms的
所以低于这个水平的瞬态过电压不会
损坏ISO124 。消光电压高于
1500VRMS使得即使过电压诱发的局部的显示
充电将停止一次的阻挡层电压降低到
1500VRMS （额定）的水平。旧的高电压试验方法
依靠施加足够大的过电压（以上等级）
打破边缘部分，但不能高到损坏
好的。我们新的局部放电测试给了我们更多
信心屏障可靠性比击穿/无突破性
下来的标准。
ISO150
A
0
A
1
V
IN
GND
ISO124
GND
+V
S2
–V
S1
+V
S1
±V
S1
1µF
1µF 1µF
–V
S2
V
OUT
+15V –15V
1
2
6
V
IN
1
2
15
ISO124
+15V –15V
9
10
8
7
V
OUT
±V
S2
1µF
15
7
PGA102
8
5
4
3
16
图2.基本信号和电源连接。
图3.可编程增益隔离通道与
1 ，10，和100增益。
®
7
ISO124
BURR-BROWN [ BURR-BROWN CORPORATION ]
